Gebraucht YASUNAGA LI-2000 #293654343 zu verkaufen

YASUNAGA innovative YASUNAGA LI-2000 Maske & Wafer Inspektion Ausrüstung ist entworfen, um die führende Kante für Präzisionsbildgebung und Inspektion zu sein. Die spezialisierte Hard- und Software bietet eine vollständige Kontrolle und Genauigkeit für eine Vielzahl von Inspektionsanforderungen und erhöht die Effizienz im Masken- und Waferinspektionsprozess. Das System verfügt über ein multidirektionales kompaktes Design und eine integrierte Bibliothek mit erweiterten Funktionen für die Inspektion. LI-2000 kombiniert verschiedene Bildaufnahmesoftware, Inspektionswissenschaft und Machine Vision sowie fortschrittliche Echtzeit-Verarbeitungsfunktionen. Die intuitive Oberfläche und die On-Board-Benutzerführung erleichtern die Bedienung des Geräts weiter. Mit einem hochmodernen Bildprozessor und einer hochpräzisen Optik ist YASUNAGA LI-2000 in der Lage, Fehler mit hoher Geschwindigkeit zu erkennen und zu analysieren. Die Datenerfassung kann mit Hilfe integrierter Sensoren automatisiert und die Maschine mit anderen externen Überwachungs- und Analysewerkzeugen verbunden werden. Die erweiterten Bildanalysefunktionen von LI-2000 ermöglichen die Erkennung von Unregelmäßigkeiten wie Partikelfehlern oder Kratzern auf Substraten. Auch OCR-Erkennung und automatisierte skriptbasierte Operationen sind möglich, die die Effizienz des Tools erhöhen. Darüber hinaus fördern die vom Asset verwendeten Algorithmen der künstlichen Intelligenz die Fehlererkennung für eine absolute Präzision im Inspektionsprozess. Das Modell besteht aus einer fortgeschrittenen Hochgeschwindigkeitsbeleuchtungskontrolle, einer Mikrometer-Bühne und einer hohen Geschwindigkeit X-Y Bühne mit verständlicher 16-Bit-Kontrolle. Dies ermöglicht es dem Benutzer, Bilder mit hoher Auflösung und Treue von oben, unten und Seiten gleichzeitig zu erfassen. Der Benutzer hat auch die Fähigkeit, sich mit anderen externen Inspektionssystemen zu verbinden, was eine Echtzeit-Datenübertragung und -freigabe ermöglicht. YASUNAGA LI-2000 erreicht überlegene Genauigkeit für präzise Masken- und Wafer-Inspektion. Es ermöglicht auch eine schnellere Fehlererkennung, eine verbesserte Erkennung von Defekten und eine minimale Wartung. Mit der Integration mit KI, OCR-Erkennungsalgorithmen und automatisierten Inspektionsprozessen können die Geräte zur Qualitätskontrolle und Fehleranalyse eingesetzt werden. Die Vielseitigkeit des Systems macht es zudem zur idealen Wahl für eine Vielzahl von Branchen.