Gebraucht ZYGO 7714 #293668057 zu verkaufen

Die Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung ZYGO 7714 ist eine vielseitige, schlüsselfertige Lösung zur Fehlererkennung und Analyse von Speicher-, Logik-, RF- und CMOS-Gerätestrukturen. Es kombiniert fortschrittliche Optik, multispektrale Weißlichtbildkontrasttechniken und flexible Rechenplattformen, um Fehler in den fortschrittlichsten Prozessschichten zu identifizieren. 7714-System verwendet leistungsstarke Optik und multispektrale Weißlicht bildgebende Kontrasttechniken, um erweiterte Defekte zu erkennen. Es verwendet eine erweiterte Bildaufnahmeeinheit, die mit ZYGO proprietären Algorithmen für die höchste Fehlererkennungsgenauigkeit optimiert wird. Die Maschine kann Defekte mit einer Größe von bis zu 0,2 Mikrometern aufweisen und Tramppartikel, Partikel und Linien-/Raumbrüche identifizieren, die zu klein sind, um mit einem Standardmikroskop gesehen zu werden. ZYGO 7714 bietet auch manuelle Inspektionsmöglichkeiten mit Sonden- und Abbildungsarmen, die leicht zu manövrieren sind, um schwer zugängliche Bereiche zu erreichen. Es bietet ein vollständig integriertes Wafer-Inspektionswerkzeug und bietet eine automatisierte Batch-Verarbeitung. 7714 ist mit einer leistungsstarken grafischen Benutzeroberfläche ausgestattet, die die Lernkurve für Benutzer vereinfachen soll. Sein intuitives Design, zusammen mit der Hilfe auf dem Bildschirm, machen es einfach zu lehren und zu bedienen. Die Assistenten und Menüs des Asset bieten schnellen Zugriff auf detaillierte Setup-Optionen und helfen Benutzern, die besten Einstellungen für ihre Fehlerinspektionsbedürfnisse auszuwählen. Neben seinen beeindruckenden Inspektionsmöglichkeiten verfügt ZYGO 7714 über eine leistungsstarke Rechenplattform und eine Daten-/Videoerfassungsarchitektur mit hoher Bandbreite. Dies ermöglicht eine schnelle Datenanalyse und ermöglicht eine schnelle Fehlerauswertung und Sortierung. Für Kunden, die maximale Performance wünschen, hat ZYGO die X-Ray-Archive-Option entwickelt, die Bildspeicherung und Archivierung ermöglicht. Diese Funktion kann detaillierte Bilder und Wafer-Maps speichern, die umfangreiche Zeitraffer-Funktionen ermöglichen. Vor allem 7714 wurde entwickelt, um Kunden die schnellen, umfassenden Fehleranalysefunktionen zu bieten, die sie benötigen. Es bietet ein zuverlässiges und kostengünstiges Inspektionsmodell, das sowohl für 2D- als auch für 3D-Wafer- und Maskeninspektionsanwendungen geeignet ist.