Gebraucht ZYGO AV 6010T #293608585 zu verkaufen

ZYGO AV 6010T ist eine fortschrittliche Maske und Wafer Inspektion Ausrüstung, entworfen, um eine optimierte Produktionsausbeute zu gewährleisten. Es ist ideal für die Prozesskontrolle, Qualitätskontrolle, die Bewertung von Fehleranalysen und ertragsbezogenen Endproblemen. Das System nutzt automatisierte, zerstörungsfreie Wafertests und Maskendickenmessungen unter Verwendung eines automatisierten optischen Mikroskops (AOM). Die bildgebende Maschine des Geräts besteht aus einer Reihe optomechanischer Komponenten, einschließlich Controller, optischem Modul und Testkopf, mit 10x und 20x bildgebenden Objektiven. Diese Komponenten sind für eine schnelle Wafer-Bildgebung ausgelegt, die eine dynamische Fehlererkennung und -verifizierung ermöglicht. ZYGO 6010T verwendet außerdem ein automatisiertes Objekt-Tracking-Tool, das die Erkennung, Klassifizierung und Meldung von Partikelfehlern ermöglicht. Das Asset ist mit einem umfassenden Satz von Software-Tools ausgestattet, darunter ein branchenübliches Datenanalysepaket und eine Bildverarbeitungsbibliothek. Mit dieser Funktion können Benutzer das Modell anpassen, um Testergebnisse schnell zu analysieren und Korrekturmaßnahmen zu entwickeln. Es enthält auch einen automatisierten Mustererkennungsalgorithmus, der eine detaillierte Analyse von Maskentopografien ermöglicht. Die Ausrüstung umfasst auch eine Reihe von Wafer Inspektion Zubehör, einschließlich fortschrittliche Stufe Automatisierung, Lichtquelle und fortschrittliche Stabilisatorsysteme. Dieses Zubehör soll sicherstellen, dass die Inspektionen mit höchster Genauigkeit und Präzision durchgeführt werden. Neben seinen bildgebenden Funktionen bietet ZYGO 6010T auch eine Reihe von Maskenmess- und Vergleichsfunktionen. Dazu gehören automatisierte Glasdickenmessungen, Bildausrichtung und Fehlererkennung sowie die Möglichkeit, Daten verschiedener Schichten und Oberflächen zu vergleichen, um Unterschiede zu erkennen. Das System ist zudem mit umfassenden messtechnischen Möglichkeiten ausgestattet, die Messungen verschiedener Parameter aus den geprüften Wafern ermöglichen. Dazu gehören Profil-, Flächen- und Gliederungsmessungen sowie Fehlerklassifizierung und Testalgorithmen. Insgesamt bietet AV 6010T eine umfassende Masken- und Wafer-Inspektionslösung, ideal für Prozesskontrolle, Qualitätskontrolle und Endausbeute. Es ist mit branchenüblichen Datenanalyse- und Bildverarbeitungswerkzeugen, erweitertem Inspektionszubehör und umfassenden messtechnischen Funktionen ausgestattet, mit denen Benutzer Testergebnisse effektiv und genau analysieren können.