Gebraucht ZYGO F/3.3 #191694 zu verkaufen

ZYGO F/3.3 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage zur Messung der Formgenauigkeit und Oberflächengüte von Masken und Wafern für Halbleiterherstellungsprozesse. Das System basiert auf einer berührungslosen Laser-Interferometer-Technologie zur Detektion von Subnanometer-Oberflächenanomalien. Es ist in der Lage, dreidimensionale (3D) topographische Karten der Oberflächen von Masken und Wafern mit Nanometer-Auflösung zu erfassen, so dass es ideal für die Messung von Oberflächenebenheit und nicht-flachen Formen in einem Schritt ist. Die Hauptmerkmale von ZYGO F/3.3 sind seine hohe Genauigkeit und Präzision. Es hat einen einstellbaren Abtastbereich von 0,1 Mikrometer bis 5 Millimeter und ist in der Lage, die Oberflächenebenheit bis zur Pegelgenauigkeit des Subnanometers zu messen. Es ist auch in der Lage, wiederholbare Messungen über mehrere Oberflächenbereiche vorzunehmen, und ist in der Lage, subtile Oberflächenanomalien zu erkennen. Das Gerät verfügt über eine 5-achsige mechanische Plattform, die es ermöglicht, verschiedene Formen und Größen von Masken und Wafern unterzubringen. Darüber hinaus verfügt ZYGO F/3.3 über eine hochgenaue optische Messtechnik-Maschine, die die Oberflächentopographie und Ebenheit messen kann. ZYGO F/3.3 ist ein hocheffizientes Inspektionswerkzeug, das den Halbleiterherstellungsprozess optimieren kann. Es verfügt über eine Hochgeschwindigkeits-Scan-Fähigkeit, mit der Benutzer schnell und präzise Ergebnisse erzielen können. Seine Software kann die Daten in einen einzigen Bericht integrieren, auf den in Echtzeit zugegriffen werden kann. Das Asset kann auch einfach in bestehende Fertigungsprozesslinien integriert werden, sodass Benutzer das Modell mit minimalen Unterbrechungen verwenden können. Neben seiner hohen Genauigkeit und Effizienz ist ZYGO F/3.3 auch auf Benutzerfreundlichkeit ausgelegt. Seine intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht es Benutzern, die Ausrüstung schnell und einfach einzurichten. Das System enthält auch eine Reihe von Sicherheitsmerkmalen, die an die individuellen Bedürfnisse des Benutzers angepasst werden können. Seine robuste Konstruktion bietet Stabilität und Zuverlässigkeit, so dass es sehr langlebig und zuverlässig. Insgesamt ist ZYGO F/3.3 eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionseinheit, die hochgenaue Inspektionsdaten bei hoher Geschwindigkeit bereitstellen kann. Seine benutzerfreundliche Schnittstelle und robuste Konstruktion machen es ideal für den Einsatz in Halbleiterherstellungsprozessen. Es hat die Fähigkeit, Oberflächenanomalien auf Nanometerebene genau zu erkennen, und seine Hochgeschwindigkeits-Scan- und Datenintegrationsfähigkeiten machen es zu einer effizienten Maschine zur Rationalisierung des Herstellungsprozesses.