Gebraucht ZYGO Mark IV XPS #9262840 zu verkaufen

ZYGO Mark IV XPS ist eine Hochgeschwindigkeits-, hochauflösende optische Bildgebungs- und Inspektionsausrüstung, die Halbleiterherstellern die schnelle und genaue Bewertung von Masken- und Waferdefekten vor und nach der Herstellung ermöglicht. Unter Verwendung seiner proprietären XDISC-Inspektionstechnologie verwendet dieses System ein leistungsstarkes Mikroskop mit variablem Sichtfeld, um dem Benutzer hohe Vergrößerungsmöglichkeiten zu bieten. Zusätzlich wird ein anspruchsvoller optischer Bildprozessor eingesetzt, der eine höhere Informationserfassungsgeschwindigkeit und höhere Genauigkeit ermöglicht. Zu den Hauptmerkmalen des Geräts gehört eine großformatige Großfeldbildanalyse-Kamera, die Bilder mit bis zu 24-Bit-Farbauflösung mit einer maximalen Auflösung von 4.096 x 4.096 Pixeln aufnehmen kann. Dies ermöglicht eine überlegene Bildqualität bei gleichzeitiger Reduzierung des Bildabbaus durch Beugung. Zusätzlich wird ein speziell entwickelter Bildverarbeitungsalgorithmus eingesetzt, um die Bilddetails und die Genauigkeit bei der Erkennung von Defekten weiter zu verbessern. Mark IV XPS verfügt auch über eine breite Palette von Inspektionsbeleuchtungsoptionen, so dass Benutzer Partikel und andere Defekte in ihren Halbleiterscheiben schnell und genau identifizieren können. Dazu gehören sowohl helle Feld- als auch Dunkelfeldbeleuchtung sowie polarisierte Spitzen- und Mikroskopbeleuchtungen. Zusätzlich steht ein Dual-Imaging-Modus zur Verfügung, der eine gleichzeitige Abbildung der Vorder- und Rückseite des Wafers ermöglicht. Die Maschine wird durch eine Reihe ergonomischer Merkmale, einschließlich eines motorisierten 360-Grad-Probenhalters und einer schwingungsarmen Probenstufe, weiter verbessert. Dies gewährleistet genaue und wiederholbare Ergebnisse auf jedem geprüften Wafer. Darüber hinaus umfasst ZYGO Mark IV XPS eine Reihe automatischer Fehlererkennungs- und Analysefunktionen, mit denen Benutzer ihre Wafer schnell und einfach beurteilen und feststellen können, ob Fehler vorliegen oder nicht. Schließlich macht es Mark IV XPS mit seiner benutzerfreundlichen Benutzeroberfläche Anwendern leicht, ihre Bilder zu verarbeiten und ihre Ergebnisse zu analysieren. Dieses Tool enthält auch eine Reihe von Nachbearbeitungsfunktionen, mit denen Benutzer ihre Einstellungen anpassen und ihre Bildergebnisse weiter verfeinern können. Durch die Nutzung dieser Funktionen können Anwender Partikel oder andere Defekte innerhalb ihrer Halbleiterscheiben schnell und genau identifizieren. Insgesamt ist ZYGO Mark IV XPS eine robuste und zuverlässige Masken- und Wafer-Inspektion, die darauf ausgelegt ist, Fehler schnell und genau zu analysieren. Die erweiterten Bildverarbeitungsfunktionen, das ergonomische Design und die automatisierten Erkennungsfunktionen machen es zu einem idealen Werkzeug für Benutzer, die ihre Wafer schnell und genau überprüfen möchten.