Gebraucht ZYGO NewView 100 #85137 zu verkaufen

ZYGO NewViewTM ZYGO NewView 100 Masken- und Wafer-Inspektionsgeräte sind eine hochauflösende, auf optischer Mikroskopie basierende bildgebende Lösung zur Inspektion jedes Elements von Halbleiterphotomasken und Wafern. Es verfügt über einen großen, 5-Achsen-motorisierten Abbildungstisch mit Präzisionsausrichtung und Wafer-Staging-System, das Genauigkeit und Wiederholbarkeit gewährleistet. Die NewViewTM ZYGO 100 verfügt zudem über eine intuitive Benutzeroberfläche sowie eine automatisierte Inspektions- und Fehlererkennungssoftware, die schnelle und effiziente Ergebnisse gewährleistet. Das Gerät hat ein 45-Grad-Blickmikroskop mit 1,2 μ lateraler Auflösung. Es verfügt über eine maximale Vergrößerung von 2000X und eine schnelle digitale Bildverarbeitungsmaschine, die eine 24-Bit-Farb-CMOS-Kamera verwendet. Die automatisierten Bilderfassungs- und Analysefunktionen des Geräts ermöglichen es, Fehler an einer Photomaske oder einem Wafer schnell und genau zu identifizieren. Es ist auch in der Lage, klare Defekte in einer einzigen Belichtung zu erkennen, und kann komplexe Defekte identifizieren, die mehrere Bilder aus dem gleichen Wafer zusammenzunähen erfordern. Das NewViewTM NEWVIEW100 verfügt über ein integriertes 4 Megapixel Digital Optical Sensing (DOS) Tool für berührungslose optische Messtechnik-Messungen. Dies ermöglicht die umfassende und genaue Analyse von Masken- oder Wafergeometrien sowie die Fehlererkennung über eine Vielzahl von visuellen und strukturellen Merkmalen hinweg. Es hat sogar die Fähigkeit, Schicht Gleichmäßigkeit und Chronik Kantenintegrität in 0,1 nm Auflösung zu messen. Diese videobasierte Inspektionsanlage ist für eine schnelle Fehlerisolierung und -analyse ausgelegt. Das Modell kann zur Fehlererkennung, Fehlercharakterisierung, Maske-zu-Maske-Vergleich und automatisierten Analyse von Prozessabläufen verwendet werden. Darüber hinaus kann es zur Beurteilung der photolithographischen Leistung, der Rauheit der Linienränder und der Mustertreue von Photomasken und Wafern bei der Herstellung eingesetzt werden. ZYGO NewViewTM NewView 100 ist eine hochleistungsfähige bildgebende und messtechnische Ausrüstung mit außergewöhnlicher Leistung und genauen Ergebnissen. Die benutzerfreundliche Oberfläche, automatisierte Fehlererkennung und intuitive Analysefunktionen des Systems sorgen für eine schnelle und effiziente Halbleitermasken- und Waferinspektion.