Gebraucht ZYGO NewView 100 #9311127 zu verkaufen

ZYGO NewView 100
ID: 9311127
System.
ZYGO NewView 100 ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für die Halbleiterindustrie. Dieses Spitzensystem bietet integrierte, schnelle und hochempfindliche 2D- und 3D-Analysen für nahezu jede Größe oder Auflösung der Masken- und Waferinspektion. ZYGO 100 verfügt über eine hochauflösende optische Einheit zur Erfassung der genauen Details der Strukturen auf Maske und Wafern und liefert eine automatisierte Analyse dieser Daten. Es kann Wafer bis zu einem Durchmesser von 300mm untersuchen und bietet 5µm Auflösung mit 128 Bildgraustufen. Die Maschine verwendet fortschrittliche Bildverarbeitungsalgorithmen, um selbst kleinste Fehler zu identifizieren, einschließlich Partikelfehler, Probleme mit Ungleichmäßigkeit und Linienbreiten. Dieses Tool bietet zudem ein ausgeklügeltes automatisiertes Wafer-Mapping für eine schnelle 2D-Analyse. Das Wafer-Mapping liefert hochauflösende und Weitfeldbilder, und das Asset ist in der Lage, auch kleine Fehler mit Leichtigkeit zu erkennen. Es verfügt auch über einen Hochgeschwindigkeits-Autofokus mit hochgenauer Messtechnik. NEWVIEW100 identifiziert genau verschiedene Arten von Overlay- oder Registrierungsfehlern, was dieses Modell zu einem idealen Werkzeug für die Ausrichtung und Strukturierung von Maskenebenen macht. Es bietet auch zerstörungsfreie Testfunktionen (NDT), mit denen Benutzer Zuverlässigkeit und Eigenschaften von gerätetypischen Strukturen auf dem Wafer bestimmen können. Was 100 auszeichnet, ist die hohe Geschwindigkeit von bis zu 10 Waferbildern pro Sekunde, die eine schnelle und genaue Waferinspektion ermöglicht. Dieses Gerät integriert sich nahtlos in andere Masken- und Waferausrichtungssysteme, um die Datengenauigkeit und Qualitätskontrolle zu gewährleisten. Es bietet auch mehrere Ausgabeformate für einfache Datenvisualisierung und -speicherung. Insgesamt bietet ZYGO NEWVIEW100 eine umfassende Lösung für die Masken- und Waferinspektion mit präziser, hochauflösender und automatisierter Datenanalyse. Seine Hochgeschwindigkeitsfähigkeit und seine genauen Ergebnisse machen es zu einem leistungsstarken Werkzeug für die Halbleiterproduktion und -design.
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