Gebraucht ZYGO NewView 5000-5032-DS #9269321 zu verkaufen

ZYGO NewView 5000-5032-DS Masken- und Wafer-Inspektionsgeräte sind ein fortschrittliches optisches Messtechnik-Tool zur hochpräzisen zerstörungsfreien Inspektion von Halbleiterphotomasken und Wafern. Mit fortschrittlicher Optik, Lasern und Elektronik bietet das System eine Reihe fortschrittlicher Funktionen und Fähigkeiten, um Fehler aufzudecken, die sonst unbemerkt bleiben können. Das Gerät besteht aus einer kryogen gekühlten 2-Megapixel-RGB-CCD-Kamera mit 45-Grad-Betrachtungswinkel, statischer und dynamischer Bildaufnahme, Autofokus und einer Hintergrundbeleuchtungseinheit. Dies ermöglicht eine maximale Sichtfeldgröße von bis zu 25mm x 25mm. Es ist gepaart mit einer schnellen und hocheffektiven X-Y-Bewegungsmaschine mit einem Z-Antrieb, der grafische Messungen auf Nanometerebene ermöglicht. Ein Bildstabilisierungswerkzeug (ISSMPC) ist auch integriert, um genaue Ergebnisse unter Messbedingungen zu gewährleisten, bei denen äußere stabilisierte Faktoren aufgrund von Vibrationen oder anderen Umweltfaktoren zu konstanten Scanverschiebungen führen können. Das Asset kann entweder mit hochauflösenden RGB-Farbsignalen oder normalen Monosignalen arbeiten. Es bietet auch Unterstützung für digitale und herkömmliche analoge optische Filter. Zusätzlich können präzise digitale Datenkorrekturen direkt auf das abgetastete Bild angewendet werden, um Messungen zu verbessern. ZYGO NEWVIEW 5000 5032-DS nutzt seine fortschrittliche Optik, um selbst kleinste Merkmale wie Kratzer, Flecken und Staubpartikel zu erkennen und kann sogar noch kleiner als die sichtbaren Merkmale auf einem Halbleiter erkennen. Es wurde entwickelt, um die Inspektion von Wafern und Masken mit hoher Pixeldichte bis hinunter zu 90nm durch Stereobildgebung, phasenverschiebende Interferometrie, Randprojektion und Lichtintensitätsvergleich zu erleichtern. Es kann auch Mura- und Dünnschichtdefekte erkennen. Um Genauigkeit und konsistente Ergebnisse zu gewährleisten, verwendet das Modell eine einzigartige Funktion namens „Standard Silicone Reference Chip“, die die Inspektion mehrerer verschiedener Chiptypen und -prozesse ermöglicht. Darüber hinaus hilft die ZYGO-Software GOTO (Geometric Testing Equipment), Fehler tiefer als herkömmliche messtechnische Systeme zu identifizieren und zu analysieren. Es hilft auch bei der Identifizierung von Mustern für defekte Wafer und Masken, bevor sie es in die Produktion machen. NewView 5000-5032-DS ist ein zuverlässiges und weit verbreitetes System zur Bereitstellung genauer Ergebnisse für jede Masken- oder Waferinspektion. Dieses fortschrittliche Messtechnik-Tool ermöglicht es Ingenieuren und Wissenschaftlern, die kleinsten Mängel aufzudecken und so die Produktionskosten für Wafer und Masken zu senken.