Gebraucht ZYGO NewView 5000 #293586679 zu verkaufen

ZYGO NewView 5000 ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage zur Auswertung und Inspektion von Photomasken, Retikeln und Wafern mit höchster Genauigkeit und Wiederholgenauigkeit. Dieses hochmoderne System ist ein einzigartiges Werkzeug, das in der Lage ist, großformatige Designs (bis zu 8-Zoll-Abmessungen) mit Funktionsgrößen von bis zu 50 Nanometern zu überprüfen. ZYGO 5000 ist eine umfassende Wafer-Inspektionseinheit mit fortschrittlicher Bildgebung, einschließlich Rasterelektronenmikroskopie für hohe Vergrößerungen, automatisierte Fehlerklassifizierungs- und Klassifizierungsregeln-Inspektion und hochmoderne computergestützte Bildgebungssoftware zur Analyse der Daten. NewView 5000 verfügt über branchenführende Auflösungsfunktionen und kann extrem kleine Fehler erkennen. Es ist in der Lage, Fehler so klein wie 1 Mikron zu identifizieren und kann Merkmale beliebiger Größe von Submikron bis zu mehreren Dutzend Mikrometer messen. Die Maschine ist mit fortschrittlichen Mustererkennungsalgorithmen ausgestattet und bietet präzise Messungen für Prozesssteuerung, Waferinspektion und Ertragsverbesserung. Die für 5000 verwendete Software ist für den einfachen Benutzerzugriff auf alle Fähigkeiten und Funktionen des Tools konzipiert. Die Benutzeroberfläche für Windows-Betriebsmittel ist intuitiv und benutzerfreundlich und ermöglicht einen einfachen Zugriff auf alle Modellsteuerungsparameter einschließlich einer Bibliothek mit gespeicherten bedienerdefinierten und voreingestellten Rezepten. Für die Qualitätskontrolle umfasst ZYGO NewView 5000 Tools wie SPC (Statistical Process Control) und 3D-Überprüfungsfunktionen. Das Gerät bietet auch anspruchsvolle Berichte wie Waferoberflächenkarten, Kontaktlochkarten, Linienfehlerkarten, mathematische Analysen, parametrische Analysen und Querschnittsbilder. ZYGO 5000 ist ein robustes, zuverlässiges und vielseitiges System, das mit den neuesten Industriestandard-Technologien kompatibel ist. Das Gerät kann von der ZYGO HQ-Softwarelösung aus ferngesteuert werden, die durchgängige Fehler- und Prozessanalysen mit webbasierten Visuals bietet, die von jedem Computer aus betrachtet werden können. NewView 5000 ist ein ideales Werkzeug zur Prozesscharakterisierung, -optimierung und -sicherung für eine leistungsstarke Halbleiterscheibenqualitätskontrolle. Es bietet eine umfassende Palette von Möglichkeiten zur Inspektion von Photomasken und Wafern mit maximaler Genauigkeit und Zuverlässigkeit.