Gebraucht ZYGO NewView 7300 #9248752 zu verkaufen
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Tippen Sie auf Zoom
Verkauft
ID: 9248752
Weinlese: 2011
3D Optical profiling system
X, Y Table: 6"
Part no / Description
6300-0459-01 / Electronics, power supply: 110 / 120 VAC, base system included
6450-0815-03 / 7000 Motorized, 5-Axis base stage includes motorized Tip / Tilt, X, Y, Z
6300-0650-01 / Motorized turret (4-Pos) (NV600 / 700 / 6000 / 7000)
6300-0522-02 / 0.5X Field zoom lens
6300-0316-01 / 1x Michelson objective (NV 6000/7000) (Not Turret Mountable)
6300-0593-01 / Objective: 5x Michel son objective
6300-0595-01 / Objective: 20x AF Objective
1776-666-012 / SiC Precision reference flat, 30 mm
1776-666-009 / Step height standard 85 mm
1840-700-105 / Vibration isolation table with 6300-2080-01 workstation table
6301-0401-01:
7300 3D Optical profiling system
Automated 3-position multiple system zoom
With 1.0x lens high performance digital
Closed loop piezo scanning transducer with capacitive feedback
150 Micron scan high speed measurement module
Enhanced illuminator with long lite LED high speed
High resolution CCD camera (640x480) 20 mm extended
Windows XP professional dell OptiPlex 745 minitower
Core 2 Duo 1.86 GHz
(2) DELL USB Keyboards
(2) DELL USB Buttons
Mouse with scroll DELL UltraSharp flat panel monitor, 17" (1.0 GB)
Digital video adapter card: 667 MHz DDR2 2 x 512
SATA Hard Disk Drive (HDD): 80GB
Optical filler panel: 48 X 32 CDRW / DVD
SATA Combo drive
Black PS2 serial port adapter
2011 vintage.
ZYGO NewView 7300 ist ein Masken- und Wafer-Inspektionsgerät, das fortschrittliche optische Bildgebungstechnologie und Bildverarbeitungsalgorithmen verwendet, um Fehler an Masken und Wafern zu erkennen und zu charakterisieren. Es wurde entwickelt, um die Präzision und Genauigkeit von Halbleiterproduktionsprozessen zu verbessern und kann sowohl für 2D- als auch für 3D-Fehlerinspektionen verwendet werden. Das System arbeitet mit einem einstellbaren Laserstrahl, um eine Probenoberfläche einer Maske oder eines Wafers abzutasten. Der Laserstrahl wird von der Probenoberfläche reflektiert und von hochauflösenden Detektoren detektiert. Die detektierten Informationen werden dann zur weiteren Verarbeitung an einen High-End-Bildprozessor gesendet. Der Bildprozessor extrahiert dann Fehlererkennungen, charakterisiert sie und erstellt einen detaillierten Bericht über die Befunde. ZYGO NEW VIEW 7300 verfügt über erweiterte Funktionen zur Fehlercharakterisierung, einschließlich der Möglichkeit, Daten aus mehreren Gesichtsfeldern der Probenoberfläche zu erfassen, zu analysieren und zu vergleichen und auch kleine Fehler zu erkennen. Es bietet auch zuverlässige Bildgebung für Brief- und Logikprüfungen auf Nanometerebene. NewView 7300 eignet sich hervorragend für Anwendungen wie Wafer- und Maskeninspektion, Wafer- und Maskenqualifizierung sowie Fehlererkennung in der Formseitenbildgebung. Es bietet ein umfassendes Gefolge von Eigenschaften einschließlich einer dynamischen Fokuseinheit an, um größere Genauigkeit, doppelbändige Laserbeleuchtungstechnologie für die erhöhte Unähnlichkeit und eine Hochleistungslaserscan-Maschine für die schnellere Verarbeitung von hochauflösenden Bildern zu sichern. Es ist mit einer leistungsstarken Bildverarbeitungsmaschine und erweiterten Analysefunktionen ausgestattet, um eine genaue Prüfung und Charakterisierung von Fehlern und deren genauen Standort zu ermöglichen. Das Tool kann auch mit SEM/TEM-Instrumenten zur automatisierten Musterverifizierung und Lieferung von Fehlerdaten integriert werden. NEW VIEW 7300 verfügt über eine benutzerfreundliche, intuitive grafische Benutzeroberfläche für einfache Einrichtung und Bedienung. Die Anlage ist so konzipiert, dass sie die höchsten Standards an Genauigkeit und Zuverlässigkeit erfüllt; trägt zu optimalen Produktionsergebnissen bei; und kann in einer Vielzahl von Halbleiterproduktionsmöglichkeiten eingesetzt werden.
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