Gebraucht ZYGO NewView 7300 #9254948 zu verkaufen

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ID: 9254948
Interference microscope Scanning white-light interferometer DELL Computer with XP Pro and MetroPro Motorized 5-axis staging Motorized turret FOV Zoom tubes: 0.5x, 1.0x Objective 5x included.
ZYGO NewView 7300 ist ein fortschrittliches Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das die Zeit und den Aufwand für die Fehlerbewertung und Messtechnik reduziert. Es nutzt hochauflösende telezentrische Optik, um mehrere Bilder eines gemusterten Wafers zu erfassen und Echtzeit-Feedback zu generieren, so dass Betreiber sofortige Ergebnisse erhalten. ZYGO NEW VIEW 7300 bietet hochgenaue, hocheffiziente automatisierte Ausrichtung und Inspektion für Präzisionsflächenprüfung, Überlagerungsausrichtung und allgemeine Fehlererkennung. Mit seiner Dual Source Technology (DST) Funktion unterstützt es sowohl Helligkeits- als auch Dunkelfeldbeleuchtung zum Scannen einer Vielzahl von Substraten und Inspektionsgeometrien. Die Integration von berührungsloser Messtechnik und hochauflösender Bildgebung ermöglicht präzise Messungen, ohne die Probenoberfläche zu stören. Zu den weiteren Funktionen von NewView 7300 gehören ein integriertes Mikroskop zur Aufnahme von Bildern der Probenoberfläche zur Erleichterung der Fehleranalyse, der Online-Bildvorverarbeitung und der Nachbearbeitung von Daten für die 3D-Rekonstruktion und Konturabbildung. Es verfügt auch über eine benutzerfreundliche grafische Oberfläche, die den Betreibern Echtzeit-Feedback bietet und auf bestimmte Anwendungen zugeschnitten werden kann. Feedback von NEW VIEW 7300 kann verwendet werden, um Prozessverbesserungen zu erleichtern und prozessbezogene Probleme rechtzeitig zu identifizieren. Seine integrierte Software kann verwendet werden, um Inspektions- und Qualitätsdaten zu verwalten und Korrelationen zwischen diesen Parametern und Fehlertyp, Anzahl, Ort und Größe zu zeichnen. Mit seinen vielfältigen Bildgebungs-, interaktiven und erweiterten Analysefunktionen bietet ZYGO NewView 7300 eine Komplettlösung für die Fehlererkennung und -charakterisierung. ZYGO NEW VIEW 7300 wurde entwickelt, um die meisten Aufgaben der Flachbildschirm-, Masken- und Wafer-Inspektion effizient und präzise mit minimalem Eingriff des Bedieners zu erledigen. Seine fortschrittlichen Fähigkeiten machen es zu einer idealen Wahl für Qualitätskontrolllabore und F & E-Einrichtungen, die höchste Standards in der Produktinspektion und Messtechnik erreichen müssen.
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