Gebraucht ZYGO ZMI 7702 #9363714 zu verkaufen
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ZYGO ZMI 7702 ist eine Maske & Wafer Inspektion Ausrüstung entwickelt, um Halbleiterbauelemente auf Fehler genau zu überprüfen. Dieses System basiert auf einem automatisierten Analysator und einem Begleitmikroskop, um überlegene Bildqualität und Inspektionsmöglichkeiten zu bieten. Das Gerät wurde entwickelt, um Exzellenz im Fehlermanagement und Routing von Wafer-Herstellungsprozessen in Halbleitertechnologien zu erreichen. ZMI 7702 verwendet einen kundenspezifischen automatisierten Analysator, um die Mikroskop-Bühne präzise zu fokussieren und zu verschieben. Die Maschine ist in der Lage, Submikron-Funktionen genau und effizient zu messen, einschließlich Hochdichteschaltungen, Speicher-Arrays und Mehrschichtverdrahtung. Es ermöglicht auch die Messung von Fehlergrößen, die Suche kritischer Gleichstromcharakteristika und die Erkennung von Transistordefekten. Das Tool ist mit einem Digital Image Analysis Module (DIAM) ausgestattet, das die Fähigkeiten der Bild- und Mustererkennung für die erweiterte Fehlererkennung nutzt. ZYGO ZMI 7702 verwendet ein modernes Mikroskop, mit dem Vergrößerungen von 5X bis 2000X erzeugt werden können. Dieses hochauflösende Mikroskop bietet sowohl helle Feld- als auch Dunkelfeldbeleuchtung, um komplexe Halbleitermuster, einschließlich Defekte, besser visualisieren zu können. Das Mikroskop verwendet eine vollständige CCD-Farbdigitalkamera für hochwertige Bilder und Videos. Darüber hinaus verwendet ZMI 7702 ein automatisiertes Alignment-Asset mit einer Musterkalibrierungsfunktion, um sicherzustellen, dass die Probe vor der Positionierung genau ausgerichtet wird. Dieses Modell bietet eine höhere Genauigkeit und Wiederholbarkeit im Inspektionsprozess. ZYGO ZMI 7702 bietet auch einfach zu bedienende Benutzeroberflächen, um effiziente und genaue Inspektionen zu ermöglichen. Die benutzerfreundliche nVision-Software wurde entwickelt, um Inspektions-Workflows zu optimieren und Echtzeitdaten bereitzustellen. Die integrierte Suchsoftware ist auch für die schnelle und einfache Fehlersuche im Lieferumfang enthalten. Zusammenfassend ist ZMI 7702 eine umfassende, leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung mit erweiterten Bildgebungs- und Fehlererkennungsfunktionen, die in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden können. Der automatisierte Analysator, das Mikroskop und das Digital Image Analysis Module (DIAM) bieten eine hervorragende Bildqualität und Genauigkeit, während die benutzerfreundlichen Schnittstellen und Software den Inspektionsprozess optimieren.
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