Gebraucht BRUKER Dimension XR #293820697 zu verkaufen

BRUKER Dimension XR ist ein fortschrittliches Atomkraftmikroskop (AFM), das modernste Funktionen für die nanoskalige Bildgebung und Analyse bietet. Dieses Hochleistungsinstrument wurde entwickelt, um den Anforderungen heutiger Forschungs- und Industrieanwendungen gerecht zu werden und bietet außergewöhnliche Auflösung, Empfindlichkeit und Flexibilität für eine Vielzahl von Bildgebungs- und Messaufgaben. Dimension XR ist mit einer Vielzahl modernster Funktionen ausgestattet, die es von anderen AFM-Systemen auf dem Markt unterscheiden. Eines der Hauptmerkmale dieses Mikroskops ist die hochauflösende Bildgebung, die es Anwendern ermöglicht, die Oberflächentopographie mit Nanometergenauigkeit zu visualisieren. Das XR-Modell verfügt über einen maximalen Scanbereich von bis zu 100 Mikrometern in X- und Y-Richtung, wodurch detaillierte Bilder über einen weiten Bereich aufgenommen werden können. Neben seinen beeindruckenden Bildgebungsfunktionen bietet BRUKER Dimension XR erweiterte Scanmodi, die es Anwendern ermöglichen, Materialeigenschaften mit außergewöhnlicher Empfindlichkeit zu sondieren. Das Instrument ist mit mehreren Scanmodi ausgestattet, einschließlich Kontaktmodus, Abgriffsmodus und berührungsloser Modus, jeder bietet einzigartige Vorteile für verschiedene Mustertypen und Messaufgaben. Das XR-Modell unterstützt auch fortschrittliche Scantechniken wie PeakForce Tapping, das eine verbesserte Bildauflösung und -empfindlichkeit für anspruchsvolle Proben bietet. Eines der herausragenden Merkmale von Dimension XR ist das integrierte optische Mikroskop, das die Live-Videobilder der AFM-Spitze und der Probe während des Scanvorgangs bereitstellt. Diese Funktion ermöglicht eine präzise Ausrichtung der AFM-Spitze und eine visuelle Bestätigung des Scanbereichs, wodurch hochwertige Abbildungsergebnisse einfacher erzielt werden können. Mit dem optischen Mikroskop können interessierende Bereiche auf der Probenoberfläche schnell lokalisiert, der Einrichtungsprozess vereinfacht und die Datenerfassung gestrafft werden. BRUKER Dimension XR ist für maximale Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit konzipiert, mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche, die eine intuitive Steuerung von Scan-Parametern und Bildgebungseinstellungen ermöglicht. Das System ist mit einer breiten Palette von Probentypen kompatibel, einschließlich Halbleitermaterialien, Polymeren, biologischen Proben und mehr, wodurch es für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen geeignet ist. Das XR-Modell bietet auch automatisierte Scanfunktionen, die eine effiziente Datenerfassung und -analyse ohne manuelle Eingriffe ermöglichen. Neben seinen Bildgebungs- und Messfähigkeiten ist Dimension XR mit fortschrittlichen Datenanalyse-Tools ausgestattet, die eine quantitative Analyse von AFM-Bildern ermöglichen. Das System verfügt über Softwarepakete zur Bildverarbeitung, Oberflächenrauhigkeitsanalyse und mechanischen Eigenschaftszuordnung, mit denen Benutzer wertvolle Informationen schnell und einfach aus ihren AFM-Daten extrahieren können. Mit seiner Kombination aus Hochleistungs-Bildgebung, fortschrittlichen Scanmodi und intuitiver Benutzeroberfläche ist BRUKER Dimension XR ein leistungsstarkes Werkzeug für Forschung und Entwicklung im Nanoskalibereich.