Gebraucht BRUKER / VEECO Dimension Edge #293640598 zu verkaufen

BRUKER/VEECO Dimension Edge ist ein Atomic Force Microscope (AFM), das für die Bildgebung und Analyse nanostrukturierter Oberflächen empfohlen wird. Es kombiniert die Leistung von VEECO Hochleistungs-AFM mit der Vielseitigkeit der BRUKER Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM). VEECO Dimension Edge ist ideal für die nanoskalige Bildgebung und messtechnische Analyse in der Materialforschung, Halbleiter und Biodiagnostik. Es hat die Fähigkeit, Oberflächen im Nanometermaßstab zu messen und bietet Benutzern hochauflösende Bilder von Nanostrukturen. BRUKER Dimension Edge kombiniert BRUKER/VEECO höchste Auflösung AFM-Bildgebung und fortschrittliche SICM-Technologie. Diese Kombination ermöglicht es Forschern, eine Vielzahl von Strukturen mit hoher Genauigkeit und Empfindlichkeit abzubilden und zu analysieren. Das SICM bietet eine außergewöhnliche Abbildung von Nanosurfaces, wie weiche biologische Proben. Die AFM-Sonde ist mit einem ultrastabilen Cantilever-Design und einem einstellbaren Frequenzbereich ausgestattet. Es ist mit einer breiten Palette von messtechnischen und bildgebenden Fähigkeiten ausgestattet, mit der Fähigkeit, Oberflächenmerkmale so klein wie 0,03 nm zu erkennen. Das SICM wird regelmäßig kalibriert, um genaue Ergebnisse zu gewährleisten und kommt mit einer Vielzahl von Tippstilen, von starren Diamantspitzen bis zu weichen Gelen. Das Instrument ist einfach zu bedienen und verfügt über einen 5,7-Zoll-Farb-Touchscreen für den schnellen Betrieb und eine benutzerfreundliche Softwareschnittstelle für die Datenverwaltung. Die Software-Tools sind mit Windows kompatibel und können für die Datenverarbeitung und Bildanalyse verwendet werden. Es enthält auch erweiterte Module für 3D-Bildgebung und automatisierte Bildgebung für eine schnellere Analyse. Darüber hinaus umfasst Dimension Edge eine integrierte Klimaanlage, ein integriertes Laserinterferometer, eine Umgebungs- und Vibrationsüberwachung sowie ein automatisiertes elektrostatisches Planarisierungssystem. Dieses Instrument wurde entwickelt, um auch in anspruchsvollen Umgebungen zuverlässige und genaue Ergebnisse zu erzielen. Die erweiterten Funktionen und die einfache Benutzeroberfläche machen BRUKER/VEECO Dimension Edge zur perfekten Wahl für die Bildgebung und Analyse nanostrukturierter Oberflächen.