Gebraucht BRUKER / VEECO Dimension Edge #293640601 zu verkaufen

BRUKER / VEECO Dimension Edge
ID: 293640601
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension Edge ist ein hochmodernes Rastersondenmikroskop, das die besten Elemente der Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und der Atomkraftmikroskopie (AFM) kombiniert. VEECO Dimension Edge verwendet ein Design, mit dem eine Reihe von Techniken mit demselben Instrument durchgeführt werden können, ohne dass mehrere Maschinen erforderlich sind. Es eignet sich sowohl für die Forschung als auch für industrielle Anwendungen wie bildgebende Polymere, Metalle und molekulare Baugruppen. Das Instrument besteht aus drei Hauptteilen: einer Abtastkammer, einer bildgebenden Quelle und Abtastsonden. Die Abtastkammer ist eine Vakuumkammer, die Verschmutzungen beseitigt und eine computergesteuerte Umweltsäule aufweist, die eine Einstellung von Druck und Feuchtigkeit ermöglicht. Die bildgebende Quelle ist VEECO state-of-the-art Electron Optics Technology (EOT), die eine BPM-801 Photonics Source und eine Feldemissionskanone umfasst. Diese Quelle ist in der Lage, hochauflösende Bilder, wie nanoskalige Bildgebung, mit schneller Abtastgeschwindigkeit und hoher lateraler und vertikaler Auflösung. Die Abtastsonden sind variabel und können im freitragenden Modus, im Abgriffsmodus und im Kontaktmodus für mehr Flexibilität verwendet werden. BRUKER Dimension Edge bietet auch eine breite Palette von Optionen für die Anpassung des Instruments für spezifische Anwendungen. Die Hauptbenutzeroberfläche besteht aus einem großen, hochauflösenden Vacuum Console LCD-Display mit Aktivmatrix-Touchscreen. Dieser Touchscreen dient zum Zugriff auf Steuerungsfunktionen, Parameterauswahl und Datenerfassung. Zu den vielen verfügbaren Einstellungen gehören Motoreinstellungen für hohe Geschwindigkeit, rauscharmes Scannen und Bildaufnahmeeinstellungen für verbesserte Auflösung und Kontrast. Dimension Edge verfügt auch über einen integrierten statistischen Analysemodus zur Beurteilung der Probengröße, zur Verringerung des Teilchenbeschusses während der Bildgebung und zur Auswertung der Korngrenzen. Das Mikroskop hat auch die Fähigkeit, erweiterte Fourier-Transformation Infrarot-Spektroskopie (FTIR) und Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) durchzuführen. Kurz gesagt, BRUKER/VEECO Dimension Edge ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Rastersondenmikroskop, das in der Lage ist, eine qualitativ hochwertige Bildgebung, Analyse und Charakterisierung im Nanoskalibereich durchzuführen. Die Kombination aus fortschrittlicher Bildgebungsquelle, optimierter Umgebungssäule und leicht einstellbaren Scansonden machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen.
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