Gebraucht BRUKER / VEECO Dimension Edge #293665810 zu verkaufen

BRUKER/VEECO Dimension Edge ist ein rasterakustisches Mikroskop, das für die hochauflösende Bildgebung von Probenoberflächen entwickelt wurde. Diese vielseitige Mikroskopieausrüstung ist ein wesentliches Werkzeug zur Analyse optischer, elektrischer, mechanischer und akustischer Informationen. Mit seinem All-in-One-Design bietet VEECO Dimension Edge einfachen Zugang zu einer umfassenden Palette von bildgebenden Funktionen, darunter: 3D-Topographie, Fotoresist-Bildgebung, Amplituden- und Phasenanalyse, akustische Bildgebung und Visualisierung. BRUKER Dimension Edge verfügt über einen Hochleistungs-Controller, einen erweiterten Abbildungskopf und ein berührungsloses Fokussierungssystem. Der Controller ist für schnelle und robuste Bildgebung in einer Vielzahl von Materialien und Umgebungen ausgelegt. Es verfügt über eine Echtzeit, selbstoptimierende Datenerfassung und Echtzeitanalyse für schnelle, genaue Ergebnisse. Der fortschrittliche Abbildungskopf kombiniert rasterakustische Mikroskopie, optische Profilometrie und Hellfeldbildgebung, um eine umfassende Abbildung von Oberflächen zu ermöglichen. Die berührungslose Fokussiereinheit hält den Fokus während des Scanvorgangs aufrecht. Dimension Edge bietet effektiven Betrieb in einer Vielzahl von Anwendungen, einschließlich sowohl Forschung und industrielle Einstellungen. Die Maschine eignet sich zur Abbildung von Halbleiterbauelementen, Leiterplatten, Flachbildschirmen und Anzeigematerialien, Photolithographiemasken und mikroelektromechanischen Systemen (MEMS). Die mitgelieferte Software ermöglicht die schnelle Einrichtung und Optimierung der bildgebenden Parameter des Werkzeugs sowie die Denoisierung für eine verbesserte bildgebende Qualität. BRUKER/VEECO Dimension Edge ist mit seinen vielfältigen bildgebenden Funktionen und leistungsstarken Funktionen eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen, von der wissenschaftlichen Analyse bis zur Qualitätskontrolle. Dieses einzigartige Mikroskop bietet überlegene Leistung und Genauigkeit für die fortschrittliche Darstellung mikroskopischer Oberflächentopographien.