Gebraucht BRUKER / VEECO Dimension Icon #293664080 zu verkaufen

BRUKER / VEECO Dimension Icon
ID: 293664080
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension Icon ist ein vielseitiges und hochentwickeltes Rastersondenmikroskop (SPM) für die topographische Bildgebung in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen. Das Gerät verfügt über ein innovatives Design, das Anwendern Präzisionsmessungen, schnelles Scannen und Bildgebung mit höherer Auflösung bietet. VEECO Dimension Icon verfügt über eine 3-achsige mechanische Konstruktion, die eine Hybridstufe zur Durchführung von XYZ-Manipulationen verwendet, so dass sie höhere Positionen und eine höhere Genauigkeit ohne Schadensgefahr erreichen kann. Das System verfügt außerdem über eine 8-Kanal-Sonden-Auswahleinheit, mit der Benutzer die Sonden basierend auf ihren Anforderungen an die Oberflächentopographie auswählen können. BRUKER Dimension Icon ist in der Lage, nicht nur Oberflächentopographie zu messen, sondern auch andere Merkmale wie Firstbreite, Schritthöhe, Korngröße und Morphologie. Darüber hinaus enthält diese Maschine auch eine Nano-Stylus-Auslegerspitze, die Anwendern eine noch höhere Oberflächentopographie-Messauflösung bietet. Das Tool ist außerdem mit einer Multi-Fix-Immersionsoptik, einem Rastertunnelmikroskop (STM) und einem Hochtemperatur-Oxidationsmodus ausgestattet, die alle dem Anwender höhere Auflösungsergebnisse liefern. Darüber hinaus verfügt Dimension Icon über eine leistungsstarke und intuitive Softwareschnittstelle, mit der Benutzer die vollständige Kontrolle über die Scanparameter erhalten. Es verfügt über ein leistungsfähiges statistisches Analysetool für die Bild- und Spektrumdatenverarbeitung, Datenmanipulation und Datenpräsentation. Die Software bietet Anwendern auch die Möglichkeit, die Daten in Echtzeit wahrzunehmen und zu analysieren. Schließlich ist dieses Modell robust konstruiert und hochprofessionell. Seine langlebige Konstruktion sorgt für gute Leistung auch unter extremen Bedingungen. Darüber hinaus ist das Gerät hochkompatibel und kann in Kombination mit anderen SPM-Systemen und Systemen verschiedener Anbieter eingesetzt werden. Insgesamt ist BRUKER/VEECO Dimension Icon ein fortschrittliches Rastersondenmikroskop mit einem vielseitigen Design. Seine innovativen Eigenschaften wie Multi-Fix-Immersionsoptik, Rastertunnelmikroskop und Hochtemperaturoxidationsmodus bieten Anwendern möglichst genaue Oberflächentopographiemessungen. Darüber hinaus eignen sich die intuitive Software-Oberfläche und das robuste Design für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen.
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