Gebraucht BRUKER / VEECO Dimension Icon #293768905 zu verkaufen

BRUKER / VEECO Dimension Icon
ID: 293768905
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension Icon ist ein Atomkraftmikroskop (AFM) für nanoskalige Bildgebung, Profilierung und Messtechnik. Es ist in der Lage, hochauflösende Topographie und Abbildung von Proben mit atomarer Auflösung. VEECO Dimension Icon verwendet führende, rauscharme Sensoren für die Höhenregelung. Dies ermöglicht einen höheren Durchsatz und eine höhere Reproduzierbarkeit für die Bildgebung und Profilierung von Proben. Ein fortschrittlicher Scancontroller ist so konzipiert, dass er eine präzise Positionierung des Scanbereichs gewährleistet und gleichzeitig einen reibungslosen Betrieb des AFM gewährleistet. BRUKER Dimension Icon enthält mehrere innovative Funktionen wie Live-Ausleger Biegeerkennung, dynamische Kraft trimmen, und eine optionale elektrostatische Kraft Korrektur Option für den Einsatz in Gegenwart von elektrischen Feldern oder elektrische Ladungen. Der AFM ist auch für die Kompatibilität mit Industriestandard-Software und Zubehör konzipiert, einschließlich der NanoWizard® Software Suite-Schnittstelle. Diese benutzerfreundliche Software ermöglicht Echtzeit-Bildgebung, Profilierung und andere hochauflösende Messtechnik. Der AFM ist auch mit mehreren anderen Datenerfassungssystemen kompatibel. Dimension Icon ist mit einer Vielzahl von Systemkonfigurationen erhältlich, darunter kombinierte SEM/AFM-Module, weißes Licht und konfokale Laserbilder und externe Scanelektronik mit invertierten, beheizten Probenstufen. Das AFM verfügt über eine breite Palette von Probenvorbereitungs- und Bildgebungszubehör, einschließlich automatisierter Scantipps für hochauflösende Bildgebung. Darüber hinaus verfügt das AFM über ein optionales optisches System für die sichtbare und infrarote Spektroskopie, mit dem der Benutzer seine Proben auf nanoskaliger Ebene analysieren kann. BRUKER/VEECO Dimension Icon wurde entwickelt, um Hochleistungs-Bildgebungs-Anwendungen in einer Vielzahl von Umgebungen, einschließlich Hochvakuum, Luft und unter Subzero Temperaturen zu behandeln. So können Forscher eine Vielzahl von Materialien leichter abbilden. Abschließend ist VEECO Dimension Icon ein leistungsstarkes Atomkraftmikroskop, das für fortgeschrittene nanoskalige Bildgebung und Profilierung entwickelt wurde. Dieses Instrument ist atomar auflösungsfähig und verfügt über innovative Funktionen wie Live-Cantilever-Biegeerkennung und dynamisches Krafttrimmen. Es ist auch mit einer breiten Palette von benutzerfreundlicher Software und Zubehör kompatibel. Der AFM ist für den Einsatz in einer Vielzahl von Umgebungen konzipiert, einschließlich Hochvakuum, Luft und Unternulltemperaturen, und eignet sich ideal für Hochleistungs-Bildgebungsanwendungen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor