Gebraucht BRUKER / VEECO Dimension Icon #293827010 zu verkaufen
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ID: 293827010
Atomic Force Microscope (AFM)
X, Y Scan range: 90 μm x 90 μm, 85 μm
Z Range: 10 μm, 9.5 μm
Sample size / holder: 210 mm vacuum chuck
Workstation: NanoScope 6, Stage controller, HV Amplifiers
Acoustic isolation: With up to 85 dBC continuous acoustic noise
Cables
Air system controller
PC
Mouse
Keyboard
Monitor
Spare parts
Z Sensor noise level:
35 pm RMS
50 pm RMS force
Vacuum sample chuck: 210 mm
X and Y Axis Position stage:
Rotating chuck: 180 mm x 150 mm
Unidirectional: 2 μm
Bidirectional: 3 μm
Microscope optics:
Digital camera: 5-Megapixel
Viewing area: 180-1465 µm
Digital zoom and Motorized focus.
BRUKER/VEECO Dimension Icon ist ein einzigartiges und fortschrittliches Forschungs- und Laborinstrument. Es handelt sich um ein multitechnisches Atomkraftmikroskop (AFM) zur Charakterisierung von Proben im Nanometermaßstab. VEECO Dimension Icon wird am häufigsten in der Materialwissenschaft und der Halbleiterforschung eingesetzt, insbesondere um oberflächenabhängige Prozesse und nanoskalige Materialeigenschaften zu analysieren. Das Gerät verfügt über ein einzigartiges MultiMode 8 Scanmikroskop (SMM), das eine Vielzahl von AFM-Scanmodi unterstützen kann, einschließlich Kontaktmodus, Abgriffsmodus, dynamischer Kontaktmodus und statischer Kontaktmodus. So können Anwender konsistente und reproduzierbare nanoskalige Bilder und Daten mit erhöhter Zuverlässigkeit erzeugen. Das System verfügt auch über ein modernes Nanomesstechnik-Modul, das zur Messung und Analyse nanoskaliger Strukturen mit Subnanometer-Auflösung entwickelt wurde. BRUKER Dimension Icon wurde mit einer offenen Architektur entwickelt, die eine nahtlose Integration mit einer Vielzahl von Zubehör und externen Instrumenten ermöglicht. Es ist mit einem großen visuellen Touchscreen und Touchscreen-Bedienelementen ausgestattet und bietet eine intuitive Benutzeroberfläche. Es bietet eine breite Palette von Tools und Techniken, um benutzerdefinierte Datenerfassung und -analyse zu erleichtern, wie Peak-Lock, Autostitch, Drift-Korrektur und automatisierte Analyse. Das Gerät umfasst auch eine fortschrittliche Wärmemanagementmaschine, die konstante Temperaturen und einen stabilen Betrieb für die anspruchsvollsten Forschungsanwendungen gewährleistet. Das Tool ist auch mit einer Vielzahl von Manipulationsstufen und Scansonden kompatibel und bietet sowohl manuelle als auch automatisierte Steuerung von Tip-Sample-Interaktionen in dynamischen und statischen Modi. Zur Anlage gehören Probenhalter für Proben von wenigen Mikrometern bis zu mehreren Millimetern. Es ist mit einer automatisierten Probenstufe und einer motorisierten Abtaststufe ausgestattet, die eine exakte Steuerung der Probenbewegung ermöglicht. Dimension Icon ist ein ideales Forschungs- und Laborinstrument für Materialwissenschaft, Halbleiterforschung und nanoskalige Charakterisierungsanwendungen. Die Kombination aus fortschrittlichen Funktionen, offener Architektur und benutzerfreundlicher Oberfläche macht es zum perfekten Werkzeug für Forscher, die nach fortschrittlichen Funktionen und konsistenten Ergebnissen suchen.
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