Gebraucht BRUKER / VEECO Dimension Icon #293827011 zu verkaufen
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ID: 293827011
Atomic Force Microscope (AFM)
X, Y Scan range: 90 μm x 90 μm, 85 μm
Z Range: 10 μm, 9.5 μm
Sample size / holder: 210 mm vacuum chuck
Workstation: NanoScope 6, Stage controller, HV Amplifiers
Acoustic isolation: With up to 85 dBC continuous acoustic noise
Cables
Air system controller
PC
Mouse
Keyboard
Monitor
Spare parts
Z Sensor noise level:
35 pm RMS
50 pm RMS force
Vacuum sample chuck: 210 mm
X and Y Axis Position stage:
Rotating chuck: 180 mm x 150 mm
Unidirectional: 2 μm
Bidirectional: 3 μm
Microscope optics:
Digital camera: 5-Megapixel
Viewing area: 180-1465 µm
Digital zoom and Motorized focus.
BRUKER/VEECO Dimension Icon ist ein hochmodernes Atomkraftmikroskop (AFM), das einen beispiellosen Zugang zur nanoskaligen Wissenschaft bietet. Dieses anspruchsvolle bildgebende Instrument soll Forschern eine möglichst hohe Auflösung von Oberflächenstrukturen und Eigenschaften ermöglichen, indem es eine nanoskalige Bildgebung und Charakterisierung biologischer und anorganischer Proben ermöglicht. Es verfügt über einen vielseitigen Scankopf mit flexiblen Scanmodi, eine einzigartige Musteranflugausrüstung und ein leistungsstarkes Kontrollsystem. VEECO Dimension Icon hat einen großen Arbeitsabstand von 300mm für einfachen Probenwechsel und bietet ein objektives Objektivdesign mit einer Öffnung bis zu 5µm. Dies ermöglicht die Abbildung kleiner Funktionen mit scharfer Bildgebungsleistung und minimaler thermischer Drift. Der Dynamikbereich des Instruments beträgt bis zu 15N mit einem Geräuschpegel besser als 0,5 Nanoampere, während die Auflösung 100 Picometer beträgt. Der fortschrittliche Scankopf des Instruments ist in der Lage, topographische Bildgebung sowie Tippmodus, laterale Kraftmikroskopie (LFM) und Z-Piezo-Modulationsscanning. Der Kopf enthält auch neun Piezo-Scanner mit bis zu 6 µm Scanbereich, so dass er hochauflösende Bilder mit schnellen Scangeschwindigkeiten aufnehmen kann. BRUKER Dimension Icon verwendet eine einzigartige Probenanflugeinheit, die in die Mikroskopopoptik integriert ist. Diese Maschine bietet eine präzise vertikale Positionierung der Probe mit einer Auflösung von 10 Nanometern. Es ermöglicht auch direkte Oberflächenkontaktmessungen ohne Ausleger und reduziert die Komplexität von Studien erheblich. Dimension Icon wird von einem Hochleistungscomputer mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche gesteuert. Mit diesem Tool werden die Scanparameter und die Datenerfassung eingestellt sowie Bilddaten analysiert und gespeichert. Es ermöglicht auch eine einfache Integration mit anderen Instrumenten wie optischen Mikroskopen. Insgesamt ist BRUKER/VEECO Dimension Icon ein leistungsstarkes bildgebendes Instrument, das beispiellose Leistung für nanoskalige Forschung bietet. Mit seinen flexiblen Scanmodi, dem einzigartigen Sample Approach Asset und dem intuitiven Steuerungsmodell können Forscher die Eigenschaften von Oberflächenstrukturen mit beispielloser Detailtreue erforschen.
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