Gebraucht BRUKER / VEECO Dimension Icon #9037640 zu verkaufen

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ID: 9037640
Atomic force microscopes X-Y scan range: 90µm x 90µm typical, 85µm minimum Z range: 10µm typical in imaging and force curve modes, 9.5µm minimum Vertical noise floor: <30pm RMS in appropriate environment typical imaging bandwidth (up to 625Hz) X-Y position noise (closed-loop): ≤0.15nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz) X-Y position noise (open-loop): ≤0.10nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz) Z sensor noise level (closed-loop): 35pm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz); 50pm RMS, force curve bandwidth (0.1Hz to 5kHz) Integral nonlinearity (X-Y-Z): <0.5% typical Sample size/holder: 210mm vacuum chuck for samples, ≤210mm diameter, ≤15mm thick Motorized position stage: (X-Y axis) 180mm × 150mm inspectable area; 2µm repeatability, unidirectional; 3µm repeatability, bidirectional Microscope optics: 5-megapixel digital camera; 180µm to 1465µm viewing area; Digital zoom and motorized focus Controller: NanoScope V Workstation: Integrates all controllers and provides ergonomic design with immediate physical and visual access Vibration isolation: Integrated, pneumatic Acoustic isolation: Operational in environments with up to 85dBC continuous acoustic noise AFM modes: Standard: ScanAsyst, TappingMode (air), Contact Mode, Lateral Force Microscopy, PhaseImaging, Lift Mode, MFM, Force Spectroscopy, PeakForce Tuna, Force Volume, EFM, Surface Potential, Piezoresponse Microscopy, Force Spectroscopy Optional: PeakForce QNM, HarmoniX, Nanoindentation, Nanomanipulation, Nanolithograpy, Force Modulation (air/fluid), TappingMode (fluid), Torsional Resonance Mode, Dark Lift, STM, SCM, C-AFM, SSRM, TUNA, TR-TUNA, VITA.
BRUKER/VEECO Dimension Icon ist ein hochmodernes Atomkraftmikroskop (AFM), das einen beispiellosen Zugang zur nanoskaligen Wissenschaft bietet. Dieses anspruchsvolle bildgebende Instrument soll Forschern eine möglichst hohe Auflösung von Oberflächenstrukturen und Eigenschaften ermöglichen, indem es eine nanoskalige Bildgebung und Charakterisierung biologischer und anorganischer Proben ermöglicht. Es verfügt über einen vielseitigen Scankopf mit flexiblen Scanmodi, eine einzigartige Musteranflugausrüstung und ein leistungsstarkes Kontrollsystem. VEECO Dimension Icon hat einen großen Arbeitsabstand von 300mm für einfachen Probenwechsel und bietet ein objektives Objektivdesign mit einer Öffnung bis zu 5µm. Dies ermöglicht die Abbildung kleiner Funktionen mit scharfer Bildgebungsleistung und minimaler thermischer Drift. Der Dynamikbereich des Instruments beträgt bis zu 15N mit einem Geräuschpegel besser als 0,5 Nanoampere, während die Auflösung 100 Picometer beträgt. Der fortschrittliche Scankopf des Instruments ist in der Lage, topographische Bildgebung sowie Tippmodus, laterale Kraftmikroskopie (LFM) und Z-Piezo-Modulationsscanning. Der Kopf enthält auch neun Piezo-Scanner mit bis zu 6 µm Scanbereich, so dass er hochauflösende Bilder mit schnellen Scangeschwindigkeiten aufnehmen kann. BRUKER Dimension Icon verwendet eine einzigartige Probenanflugeinheit, die in die Mikroskopopoptik integriert ist. Diese Maschine bietet eine präzise vertikale Positionierung der Probe mit einer Auflösung von 10 Nanometern. Es ermöglicht auch direkte Oberflächenkontaktmessungen ohne Ausleger und reduziert die Komplexität von Studien erheblich. Dimension Icon wird von einem Hochleistungscomputer mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche gesteuert. Mit diesem Tool werden die Scanparameter und die Datenerfassung eingestellt sowie Bilddaten analysiert und gespeichert. Es ermöglicht auch eine einfache Integration mit anderen Instrumenten wie optischen Mikroskopen. Insgesamt ist BRUKER/VEECO Dimension Icon ein leistungsstarkes bildgebendes Instrument, das beispiellose Leistung für nanoskalige Forschung bietet. Mit seinen flexiblen Scanmodi, dem einzigartigen Sample Approach Asset und dem intuitiven Steuerungsmodell können Forscher die Eigenschaften von Oberflächenstrukturen mit beispielloser Detailtreue erforschen.
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