Gebraucht BRUKER / VEECO Dimension Icon #9312250 zu verkaufen

ID: 9312250
Atomic Force Microscope (AFM).
BRUKER/VEECO Dimension Icon ist ein Rastersondenmikroskop, das beispiellose Möglichkeiten zur Untersuchung und Messung von Oberflächenmerkmalen bietet. Es vereint mehrere Instrumente in einem, einschließlich Rastertunnelmikroskopie (STM), Atomkraftmikroskopie (AFM), Kontaktmodus AFM und in-situ elektrische/optische/mechanische Charakterisierung. Es bietet auch die gleichzeitige Abbildung mehrerer Modi an einem einzigen Ort, geräuscharmen Betrieb, dynamische Cantilever-Erkennung und einfache Integration von Zubehör. VEECO Dimension Icon nutzt die neueste Nanotechnologie und ermöglicht es Forschern, eine Vielzahl von Materialien aus jeder Größenordnung zu untersuchen, von nanoskaligen bis zu Schüttgütern. Die Ausstattung umfasst einen einzigartigen modularen Aufbau, der es einfach macht, sich an die Bedürfnisse jedes Benutzers anzupassen. Es verwendet drei Präzisionsmotoren für die Amplitudensteuerung und fungiert als fortschrittliches Scansystem, wodurch es in der Lage ist, hochauflösende Bilder abzubilden. Es umfasst auch mehrere bildgebende Modi, die eine Vielzahl von Anwendungen wie chemische Bildgebung, Topographie und Piezoresponse ermöglichen. Das Instrument verfügt außerdem über eine integrierte Temperaturregeleinheit. Dies gewährleistet genaue Messungen und Temperaturstabilität im gesamten Messbereich. Es zeichnet sich auch durch Phototech-Stabilität aus, bei der das Mikroskop den Fokus und die Ausrichtung auf einem konstanten Niveau hält, wenn die Probenposition durch die vibrationsfeste optische Maschine verändert wird. Darüber hinaus kombiniert BRUKER Dimension Icon einen großen Probenbereich mit hochauflösenden Detailbildern, so dass es ideal für den Einsatz in der fortschrittlichen Materialanalyse und Nanotechnologie ist. Das Tool verfügt auch über eine intuitive einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche. Es bietet eine visuelle Darstellung des Materials und seiner Eigenschaften, zusammen mit präzisen x/y/z Koordinaten und Scans, was die Analyse der Daten erleichtert. Schließlich bietet das Asset eine Reihe von Software-Tools, die eine detaillierte Datenanalyse und -integration mit anderen Systemen ermöglichen. Insgesamt ist das Dimension Icon Scanmikroskop ein leistungsstarkes und vielseitiges Modell für die Untersuchung von Oberflächenmerkmalen aus jeder Skala. Es bietet hochauflösende Bildgebung und mehrere bildgebende Modi, Phototech-Stabilität, integrierte Temperaturregelung und intuitive GUI sowie verschiedene Software-Tools für Integration und Datenanalyse.
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