Gebraucht BRUKER / VEECO Dimension VX 305 #293665809 zu verkaufen

ID: 293665809
Weinlese: 2006
Atomic Force Microscope (AFM) 2006 vintage.
BRUKER/VEECO Dimension VX 305 ist ein fortschrittliches Rastersondenmikroskop, das hochpräzise Messungen auf mikroskopischen Skalenoberflächen ermöglicht. Dieses Mikroskop vereint eine Vielzahl von Messtechniken wie Atomkraftmikroskopie (AFM), Rastertunnelmikroskopie (STM) und Rasterkapazitätsmikroskopie (SCM). VEECO Dimension VX 305 verfügt über einen zweiachsigen Scanner, der eine präzise Positionierung der Probe und Kontrolle des Scanfeldes ermöglicht. Der Scanner bietet eine breite Palette an Scan-Rastergrößen von 10 Nanometern bis 30 Millimetern. Das Mikroskop beinhaltet einen integrierten Scanrahmen mit geschlossener Regelschleife für verbesserte Positioniergenauigkeit. Dies hilft auch bei der Messqualität, indem konstante, wiederholbare Scanbewegungen und -bewegungen ermöglicht werden. BRUKER Dimension VX 305 wird von einem leistungsstarken PC-basierten Controller gesteuert, der über eine sichere Ethernet-Schnittstelle mit dem Instrument verbunden ist. Dieser Regler gewährleistet ein hohes Maß an Automatisierung und Genauigkeit im Betrieb des Mikroskops, einschließlich Messqualitätsrückmeldung und -kontrolle. Die Messfähigkeiten des Dimension VX 305 werden durch seine verschiedenen Abbildungsmodi weiter erweitert. Das Mikroskop bietet Möglichkeiten wie Kontakt-, Klopf- und dynamische Kraftmikroskopie (DFM). Mehrere Abbildungsmodi wie Frequenzmodulation, Phasenbildgebung und laterale Kraftmikroskopie ermöglichen herausragende Ergebnisse in einer Vielzahl von Anwendungen. BRUKER/VEECO Dimension VX 305 ist in seiner Betriebsumgebung vielseitig einsetzbar. Das Mikroskop ist mit einer Reihe von Umgebungskontrollfunktionen wie Temperaturregelung, Gasversorgungsregelung und Feuchtigkeitsüberwachung ausgestattet. Damit kann das Mikroskop unter anspruchsvollen Umgebungsbedingungen und einer Vielzahl von analytischen und messtechnischen Anwendungen eingesetzt werden. Das Mikroskop ist auch in der Lage, Proben unterhalb und oberhalb der Oberfläche der Probe zu betrachten. VEECO Dimension VX 305 ist wirklich ein einzigartiges und vielseitiges Rastersondenmikroskop, das verwendet werden kann, um hochpräzise und detaillierte Messungen von mikroskopischen Skalenoberflächen vorzunehmen. BRUKER Dimension VX 305 ist mit seiner Kombination aus Kapazitäts-, Tunnel- und anderen bildgebenden Modi eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Branchen und Anwendungen.
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