Gebraucht BRUKER / VEECO Dimension X3D #9150545 zu verkaufen
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ID: 9150545
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2006
Atomic Force Microscope (AFM), 12"
UI Rack
Main body
Device monitor
2006 vintage.
BRUKER/VEECO Dimension X3D ist ein Hochleistungs-Analysesondenmikroskop (SPM), das eine berührungslose Oberflächencharakterisierung für eine Vielzahl von Anwendungen ermöglicht. Es verwendet fortschrittliche Technologie, einschließlich einer Reihe von hochauflösenden Scanmodi, um eine beispiellose Raumauflösung zu bieten. VEECO Dimension X3D ist das Spitzenmodell der Dimension SPM-Familie. Es ist in der Lage, Materialien mit einer Auflösung von bis zu 0,1 nm in einer kontrollierten Umgebung zu analysieren, was eine dynamische Abbildung von nanoszierbaren Merkmalen und Strukturen ermöglicht. Es ermöglicht auch großflächige Messungen mit außergewöhnlicher seitlicher Auflösung, so dass Benutzer komplexe dreidimensionale Daten schnell und einfach sammeln können. BRUKER Dimension X3D ist mit einer Vielzahl von thermischen und optischen Rückkopplungsmechanismen sowie einer Vielzahl von Scan-Modi ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, eine Vielzahl von Operationen durchzuführen, ohne die Probe zu beeinflussen. Es ist auch mit einer großformatigen Probenstufe ausgestattet, die eine schnelle Datenerfassung über eine große Fläche mit einem Minimum an Bewegung und thermischer Drift ermöglicht. Dank der Flexibilität und hochauflösenden Funktionen des Geräts können Anwender Daten von nanoskaligen (z. B. Kontaminations- und Chemieanalysen) bis hin zu verschiedenen bildgebenden Anwendungen wie Topographie, hochauflösender Bildgebung und Parameterkarten erfassen. Darüber hinaus ist Dimension X3D in der Lage, in Luft- und Flüssigkeitsumgebungen zu scannen und eine Vielzahl von Materialien zu charakterisieren, einschließlich organischer und anorganischer Materialien, Metalle und Halbleiter. BRUKER/VEECO Dimension X3D beinhaltet auch eine hohe Softwareintegration, die Datenanalyse optimiert und automatisierte Funktionen ermöglicht, um eine benutzerfreundliche Bedienung zu ermöglichen. Seine benutzerfreundliche SPM ermöglicht es Benutzern, eine breite Palette von Experimenten mit einem Minimum an Training durchzuführen. VEECO Dimension X3D ist ein Hochleistungs-Rastersondenmikroskop, das für einfache Bedienung und zuverlässige, hochauflösende Bildgebung entwickelt wurde. Es ermöglicht die genaue Charakterisierung von Oberflächen bis in die Nanoskala und umfasst eine breite Palette integrierter Software-Tools, die eine automatisierte und einfache Bedienung ermöglichen. Mit seinen vielfältigen Fähigkeiten ist es ein ideales Werkzeug für Forscher, die Nanomaterialien, Materialwissenschaften und mehr studieren.
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