Gebraucht BRUKER / VEECO Ultra Scan Control C #9098198 zu verkaufen

BRUKER/VEECO Ultra Scan Control C ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das entwickelt wurde, um Spitzenleistungen in bildgebenden, spektroskopischen und lithographischen Anwendungen zu liefern. Mit einer Kombination aus hochauflösenden Ionendetektoren und leistungsstarker Software bietet VEECO Ultra Scan Control C eine detaillierte Analyse einer Reihe von Materialien, einschließlich Metallen, Polymeren und Materialien auf Kohlenstoffbasis. BRUKER Ultra Scan Control C bietet eine hervorragende Bildauflösung aufgrund seiner geringen Aberrationsspalte und des geringen Hintergrundrauschens. Der X-Y-Scan-Bereich des Instruments beträgt bis zu 8mm, und eine breite Palette von Detektoren liefern spektroskopische Informationen, wie Röntgenstrahlung, Auger-Elektronenenergiespektren und SEM-Elementarbilder, von denen jedes in einem Bereich von Vergrößerungen von 0,5 nm bis 10 µm aufgenommen werden kann. Ultra Scan Control C verfügt über ein hochpräzises Autofokus-System, das die Bildqualität durch korrektives Feedback auch bei kleinen Änderungen der Probenhöhe gewährleistet. Das System ermöglicht auch dynamische Anpassungen an Schärfentiefe und Vergrößerung sowie Bewegung entlang der z-Achse. Darüber hinaus kann eine breite Palette von Probenhaltern verwendet werden, so dass Proben unterschiedlicher Geometrien untersucht werden können. BRUKER/VEECO Ultra Scan Control C ist in der Lage, ein wiederholtes Scannen derselben Probe durchzuführen, um eine statistische Analyse zu ermöglichen. Eine ILA-Funktion (Image Alignment) ermöglicht die ultraschnelle Abbildung variabler Proben mit unglaublich kleinen Verweilzeiten. Die automatisierte ILA gewährleistet auch eine genaue Abbildung mehrerer Proben, ohne dass eine Neuausrichtung erforderlich ist. Darüber hinaus ermöglicht das fortschrittliche Signalsammelsystem es Forschern, Parameter für die Speicherung und Analyse von Daten zu ändern. Softwarefunktionen wie die Spitzen- und Talerkennung ermöglichen eine schnelle Messung der Poren- und Korngröße sowie die Messung der Oberflächenrauhigkeit. VEECO Ultra Scan Control C verfügt auch über eine Reihe von leistungsstarken Analyse- und Auswertungstools, darunter eine Histogrammanzeige, Beschriftungsfunktionen und zweidimensionale Konturkarten. Insgesamt ist BRUKER Ultra Scan Control C ein fortschrittliches SEM-Gerät, das eine breite Palette von Funktionen für Bildgebungs-, Spektroskopie- und Lithographieanwendungen bietet und in der Lage ist, eine detaillierte Analyse einer Reihe von Materialien durchzuführen. Mit seiner Kombination aus hochauflösenden Ionendetektoren und leistungsstarken Software-Fähigkeiten ist es ein ideales Instrument für Forscher in verschiedenen Disziplinen.