Gebraucht BRUKER / VEECO X-D3 AFM #9281333 zu verkaufen

BRUKER/VEECO X-D3 AFM ist eine Art Atomkraftmikroskop (AFM), das für die nanoskalige Bildgebung und Oberflächenanalyse verwendet wird. Es hat eine sehr hohe Auflösung von 1,5 nm in den x-, y- und z-Dimensionen für die Submikronanalyse von magnetischen, elektrischen und mechanischen Eigenschaften verschiedener Oberflächen. Das X-D3 ist bekannt für seine Benutzerfreundlichkeit, Genauigkeit und Zuverlässigkeit, so dass es eine ideale Wahl für professionelle und Amateurforscher gleichermaßen. Das AFM scannt nanometerweitete Probenoberflächen mit einer Spitze, die an einem Ausleger befestigt ist. Die Bewegung des Auslegers wird durch einen Laser und einen optischen Detektor gemessen. Der Ausleger ist schräg versetzt und erzeugt während des gesamten Scanvorgangs eine geringe Kraft. VEECO X-D3 AFM ist mit Multi-Mode-Fähigkeiten integriert, einschließlich Kontakt (der Änderungen der Kontaktkraft zwischen dem Ausleger und der Probenoberfläche misst) und berührungslos (in dem der Ausleger in einem unbelasteten Zustand arbeitet). Mit dem Kontaktmodus ist das X-D3 in der Lage, verschiedene Arten der Oberflächentopographie, wie topographische Höhenvariationen, Beulen und Hohlräume, genau abzubilden und zu messen. Der berührungslose Modus ist ideal, um lokale mechanische Eigenschaften wie Reibung und Elastizitätsmodul zu untersuchen. Das X-D3 ist zudem mit einem neuen hochauflösenden DataCube-Bildgebungssystem ausgestattet, das eine DMD-Technologie (Digital Micromirror Device) für die fortschrittliche 3D-Bildgebung umfasst. Dieses System bietet ein hoch detailliertes Bild mit einer höheren Genauigkeit als herkömmliche 2D-Bildgebungsverfahren. Die Leistung des DataCube wird durch Superresolution-Bildgebung weiter verbessert, die die Auflösung der herkömmlichen Bildgebung übertrifft, indem sie effektiv eine Bewegungsunschärfe verwendet, um mehrere Bilder zu kombinieren. Das X-D3 ist auch für die Messung der Strom-Spannungs-Charakterisierung (I-V) mit einem eingebauten Elektrometer optimiert, das es Anwendern ermöglicht, Übergänge in elektrischem Widerstand oder Kapazität schnell und genau zu messen. Darüber hinaus verfügt der AFM über einen integrierten PicoScan IV-Controller, der in Echtzeit Feedback während Experimenten liefert und es Anwendern ermöglicht, nanoskalige Eigenschaften wie Hysteresekurven und magnetische Domänen besser zu messen. Die Flexibilität dieses AFM macht es zur perfekten Wahl für Branchen wie Mikroelektronik, Biotechnologie, Halbleiter und Datenspeicherung.