Gebraucht CAMECA LEAP 3000X Si #9240926 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9240926
Weinlese: 2006
Atom probe microscope
Option:
Laser
Plasma cleaner on buffer chamber
Pucks:
Local electrode puck
Local electrode
Local electrode puck alpha identifier
Specimen puck numeric identifier
Specimen puck
Specimen holder
Specimen and puck assembly:
Specimen length: 2-8 mm
Specimen puck cone
Specimen set screw
Planar specimen
Wire specimen
Specimen mounting post:
Wire specimens mount to an 8 mm post
Planar specimens mount to a 14 mm post
Carousel and pucks:
Local electrode puck
Loadlock peg clearance notch
Specimen puck
Carousel index
Puck position alpha identifier
Carousel numeric identifier
Local electrode puck mounted in the carousel
Loadlock peg mount
LEAP Microscope:
UHV Vacuum gauge
Loadlock chamber and access door
Buffer turbo pump
Loadlock turbo pump
Horizontal transfer rod
Horizontal transfer rod chamber slide
Horizontal transfer rod angle control
Vertical transfer rod
FIM System
Bakeout blower heater
Vertical transfer rod rotation control
Buffer chamber
Vertical transfer rod vertical control
Ion pump
Amplifier Time to Digital Converter (ATDC)
Instrument flange and analysis chamber
Video camera: Top
Specimen stage alignment microscope
Instrument flange:
FIM Camera
Detector and phosphor screen selector
Flight-path length adjustment
Gate valves:
Loadlock gate valve
Turbo pump gate valve
Ion pump gate valve
Buffer gate valve
Instrument rack:
Ion pump controller
NEG Controller
Micro-positioning stage controller
High-voltage power supply
Interlock assembly
Pulser assembly
Bakeout controller
UPS
Cryo temperature controller
Vacuum gauge assembly
Emergency Machine Off (EMO) switch
Pump cart:
Pump cart
Roughing pumps
Refrigerant compressor
Laser components:
Instrument flange enclosure
Laser beam conditioning assembly
Laser system rack
Laser and voltage systems
Cold head
Floor-mount cold head support
Laser power-supply control panel:
Laser system rack
Main power switch
Laser power supply control panel
High voltage source 1 status LED
Laser-beam power switch
D1 and D2 pump diode status LED
Emergency stop switch
2006 vintage.
CAMECA LEAP 3000X Si ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop. Es ist ein hochauflösendes Instrument, das für eine Vielzahl von Anwendungsbereichen wie Materialanalyse, Defektcharakterisierung, Oberflächentopographie, Fehleranalyse, biologische Bildgebung und nanoskalige Bildgebung verwendet wird. LEAP 3000X Si enthält eine monochromierte Thermofeldemissionskanone für stabile und wiederholbare Bildgebung. Es ist mit einem Hochleistungs-Bildgebungssystem ausgestattet, das extrem schnelle Scangeschwindigkeiten und hohe Pixelzahlen für detaillierte Bilder ermöglicht. CAMECA LEAP 3000X Si verfügt über ein automatisiertes Nähsystem zur Probenvorbereitung und zur Vergrößerung des Sichtfeldes des Bildes. Das Objektivdesign von LEAP 3000X Si ist für maximale Auflösung und Flexibilität optimiert. Es verfügt über ein 3-Strahl-Bildgebungssystem, mit dem sowohl Korngrenzen als auch kleine Oberflächenmerkmale abgebildet werden können. Die Strahlbildungsstufen helfen dabei, die Streustrahlung im Bild zu minimieren, was das Bild weit weniger aussagekräftig machen kann. CAMECA LEAP 3000X Si ist in der Lage, eine bildgebende Auflösung von besser als 1 nm zu erreichen, was dreimal mehr Auflösung als herkömmliche SEMs ist. Alle diese Merkmale ermöglichen eine sehr detaillierte Analyse der Proben bis hin zum Nanoskala. LEAP 3000X Si verfügt auch über eine Vielzahl von effusiven und nicht-effusiven Probenvorbereitungssystemen für die wahre Materialanalyse. Dazu gehören Probenbeschichtungssysteme und Probenkühlsysteme, die Anwendern helfen, die Probenqualität während ihrer Experimente aufrechtzuerhalten. CAMECA LEAP 3000X Si verfügt über eine benutzerfreundliche intuitive Benutzeroberfläche, die die Bedienung des Mikroskops wesentlich erleichtert. Es enthält auch ein intuitives Video-Tutorial, das verschiedene Funktionen erklärt und den Benutzer mit dem Mikroskop komfortabler macht. Insgesamt ist LEAP 3000X Si ein Top-of-the-Line-Mikroskop, das außergewöhnliche Bildgebung für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen bereitstellen kann. Die Kombination aus hochauflösender Bildgebung, automatisierten Systemen und anspruchsvollen Probenvorbereitungsfunktionen machen CAMECA LEAP 3000X Si zu einem idealen Instrument für Forscher, die nach einer fortschrittlichen bildgebenden Lösung suchen.
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