Gebraucht CAMECA LEAP 3000X Si #9240926 zu verkaufen

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Hersteller
CAMECA
Modell
LEAP 3000X Si
ID: 9240926
Weinlese: 2006
Atom probe microscope Option: Laser Plasma cleaner on buffer chamber Pucks: Local electrode puck Local electrode Local electrode puck alpha identifier Specimen puck numeric identifier Specimen puck Specimen holder Specimen and puck assembly: Specimen length: 2-8 mm Specimen puck cone Specimen set screw Planar specimen Wire specimen Specimen mounting post: Wire specimens mount to an 8 mm post Planar specimens mount to a 14 mm post Carousel and pucks: Local electrode puck Loadlock peg clearance notch Specimen puck Carousel index Puck position alpha identifier Carousel numeric identifier Local electrode puck mounted in the carousel Loadlock peg mount LEAP Microscope: UHV Vacuum gauge Loadlock chamber and access door Buffer turbo pump Loadlock turbo pump Horizontal transfer rod Horizontal transfer rod chamber slide Horizontal transfer rod angle control Vertical transfer rod FIM System Bakeout blower heater Vertical transfer rod rotation control Buffer chamber Vertical transfer rod vertical control Ion pump Amplifier Time to Digital Converter (ATDC) Instrument flange and analysis chamber Video camera: Top Specimen stage alignment microscope Instrument flange: FIM Camera Detector and phosphor screen selector Flight-path length adjustment Gate valves: Loadlock gate valve Turbo pump gate valve Ion pump gate valve Buffer gate valve Instrument rack: Ion pump controller NEG Controller Micro-positioning stage controller High-voltage power supply Interlock assembly Pulser assembly Bakeout controller UPS Cryo temperature controller Vacuum gauge assembly Emergency Machine Off (EMO) switch Pump cart: Pump cart Roughing pumps Refrigerant compressor Laser components: Instrument flange enclosure Laser beam conditioning assembly Laser system rack Laser and voltage systems Cold head Floor-mount cold head support Laser power-supply control panel: Laser system rack Main power switch Laser power supply control panel High voltage source 1 status LED Laser-beam power switch D1 and D2 pump diode status LED Emergency stop switch 2006 vintage.
CAMECA LEAP 3000X Si ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop. Es ist ein hochauflösendes Instrument, das für eine Vielzahl von Anwendungsbereichen wie Materialanalyse, Defektcharakterisierung, Oberflächentopographie, Fehleranalyse, biologische Bildgebung und nanoskalige Bildgebung verwendet wird. LEAP 3000X Si enthält eine monochromierte Thermofeldemissionskanone für stabile und wiederholbare Bildgebung. Es ist mit einem Hochleistungs-Bildgebungssystem ausgestattet, das extrem schnelle Scangeschwindigkeiten und hohe Pixelzahlen für detaillierte Bilder ermöglicht. CAMECA LEAP 3000X Si verfügt über ein automatisiertes Nähsystem zur Probenvorbereitung und zur Vergrößerung des Sichtfeldes des Bildes. Das Objektivdesign von LEAP 3000X Si ist für maximale Auflösung und Flexibilität optimiert. Es verfügt über ein 3-Strahl-Bildgebungssystem, mit dem sowohl Korngrenzen als auch kleine Oberflächenmerkmale abgebildet werden können. Die Strahlbildungsstufen helfen dabei, die Streustrahlung im Bild zu minimieren, was das Bild weit weniger aussagekräftig machen kann. CAMECA LEAP 3000X Si ist in der Lage, eine bildgebende Auflösung von besser als 1 nm zu erreichen, was dreimal mehr Auflösung als herkömmliche SEMs ist. Alle diese Merkmale ermöglichen eine sehr detaillierte Analyse der Proben bis hin zum Nanoskala. LEAP 3000X Si verfügt auch über eine Vielzahl von effusiven und nicht-effusiven Probenvorbereitungssystemen für die wahre Materialanalyse. Dazu gehören Probenbeschichtungssysteme und Probenkühlsysteme, die Anwendern helfen, die Probenqualität während ihrer Experimente aufrechtzuerhalten. CAMECA LEAP 3000X Si verfügt über eine benutzerfreundliche intuitive Benutzeroberfläche, die die Bedienung des Mikroskops wesentlich erleichtert. Es enthält auch ein intuitives Video-Tutorial, das verschiedene Funktionen erklärt und den Benutzer mit dem Mikroskop komfortabler macht. Insgesamt ist LEAP 3000X Si ein Top-of-the-Line-Mikroskop, das außergewöhnliche Bildgebung für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen bereitstellen kann. Die Kombination aus hochauflösender Bildgebung, automatisierten Systemen und anspruchsvollen Probenvorbereitungsfunktionen machen CAMECA LEAP 3000X Si zu einem idealen Instrument für Forscher, die nach einer fortschrittlichen bildgebenden Lösung suchen.
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