Gebraucht NANOSURF Flex #293603647 zu verkaufen
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ID: 293603647
Atomic Force Microscope (AFM)
Maximum scan range: 100 µm x 100 µm
Resolution in XY: 1.525 nm
Maximum Z range: 10 µm
Resolution in Z: 0.152 nm
Acoustic enclosure
Operating mode:
Static force
Lateral force
Dynamic force
Phase contrast
Tips:
150A1-G Sensor tap
Tip radius: <10 nm
Half cone angle:
20°-25° Along cantilever axis
25°-30° From side
10° At the apex.
NANOSURF Flex ist ein außergewöhnlich vielseitiges Mikroskop, das für eine Vielzahl von Anforderungen an die Bildgebung und Oberflächencharakterisierung entwickelt wurde. Es wurde entwickelt, um hervorragende Auflösung und Bildkontrast zu bieten, so dass Wissenschaftler komplexe Proben mit Leichtigkeit und Genauigkeit abbilden können. Der Kern des Mikroskops besteht aus einer computergesteuerten Mikroskopeinheit mit integrierter motorisierter Bühne und einer Vielzahl optionaler Komponenten. Ein integrierter nanopositionierender No-Go-Fahrbereich und ein mechanischer Oberflächenscannerkopf mit Nanometergenauigkeit machen Flex hochempfindlich für bildgebende Oberflächen mit topographischen Merkmalen, die sich von wenigen Nanometern bis zu mehreren Millimetern erstrecken. NANOSURF Flex bietet auch eine Vielzahl von integrierten Funktionen für eine komfortable Bedienung, darunter einen ergonomischen Joystick für die Navigation, ein Steuer- und Rückkopplungssystem für die Bewegungssteuerung und einen motorischen Fokussiermechanismus für die Feinfokuseinstellung. Mit dem System kann man Bilder von jedem Rasterelektronenmikroskop oder anderen Geräten, die mit Flex verbunden werden können, erfassen und analysieren. Die Flexibilität des Systems ermöglicht es dem Anwender auch, eine Vielzahl von Experimenten durchzuführen, von einem einfachen Top-Down-Oberflächenscan bis hin zu einer gründlicheren quantitativen Oberflächenanalyse. Seine optischen Fähigkeiten bieten Hellfeld, Dunkelfeld, differentiellen Interferenzkontrast (DIC) und polarisierte Licht Bildgebung, um die feinsten Details der Proben zu machen und Abmessungen mit Mikron-Ebene Genauigkeit messen. NANOSURF Flex ist auch mit eingebauten Werkzeugen zur Messung von Oberflächeneigenschaften, einschließlich Rauheit und Wellung, ausgestattet. Seine automatisierten Zuordnungsfunktionen können diese Parameter mit hoher Präzision messen, wodurch die manuelle Messung der Funktionen entfällt. Was Flex von ähnlichen Setups abhebt, ist seine Vielseitigkeit und Genauigkeit. In Kombination mit seiner ergonomischen Steuerung ermöglicht es Wissenschaftlern, komplexe Proben komfortabel mit außergewöhnlicher Genauigkeit abzubilden und so detaillierte Modelle von Oberflächeneigenschaften zu entwickeln.
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