Gebraucht OLYMPUS AL3110F #9250840 zu verkaufen

OLYMPUS AL3110F ist ein leistungsstarkes invertiertes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Querschnittsprüfung, Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialien und Strukturen entwickelt wurde. Es ist in der Lage, hochauflösende SEM-Bilder bis zu einer seitlichen Auflösung von 5 nm mit einem Probenraum von bis zu 3 cm Durchmesser zu erzeugen. Das Mikroskop wird von einer Field Emission Gun (FEG) angetrieben, um eine hohe Stromdichte für eine überlegene hochauflösende Bildgebung sowie eine überlegene Bildtiefe und 3D-Tomographie zu liefern. OLYMPUS AL-3110F verfügt über eine breite Palette von bildgebenden Fähigkeiten, einschließlich mehrerer bildgebender Modi mit sekundären und rückgestreuten Elektronen wie: SEM-Bildgebung, rückgestreute Elektronenbildgebung, energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX), Wellenlängen-dispersive Röntgenspektroskopie (wDDDuminence). Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einer speziellen Hochvakuumstufe ausgestattet, um luftempfindliche Proben beobachten zu können. AL 3110F ist mit Blick auf Automatisierung und Benutzerfreundlichkeit konzipiert und enthält mehrere Funktionen zur Verbesserung der Bildgebungsqualität. Die automatische Blendensteuerung ermöglicht eine optimale Ausleuchtung der Probe, wodurch der Benutzer das Signal-Rausch-Verhältnis maximieren und stabile Bilder erzielen kann. Das Instrument verfügt über einen integrierten digitalen Videomonitor und integrierte Software, um eine präzise Positionierung und Navigation der Probe zu ermöglichen. Das Mikroskop enthält auch ein Hochgeschwindigkeits-Autofokus-System, um die Probe während der erweiterten SEM-Bildgebung in derselben Brennebene zu halten, sowie digitale Zoomfunktionen, um die Auflösung feiner Details aus großflächigen Beobachtungen zu ermöglichen. Das Gerät ist mit einer empfindlichen Umgebungssteuerung ausgestattet, um stabile Betriebsbedingungen zu gewährleisten, und enthält ein visuelles Bedienfeld zur einfachen Einstellung aller Mikroskopparameter. Insgesamt ist OLYMPUS AL 3110F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das sich perfekt für die Abbildung einer Vielzahl von Materialien und Strukturen eignet. Es wurde entwickelt, um höchste Bildqualität und Zuverlässigkeit zu gewährleisten und gleichzeitig dem Benutzer eine breite Palette von bildgebenden Optionen, Automatisierungs- und benutzerfreundlichen Funktionen zu bieten.