Gebraucht OLYMPUS BH2-RFCA #9088103 zu verkaufen

OLYMPUS BH2-RFCA ist ein fortschrittliches Transmissionselektronenmikroskop (TEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Strukturanalyse von Mikro- und Nanomaterialien. Es bietet eine automatisierte, benutzerfreundliche Plattform zur quantitativen Charakterisierung unterschiedlichster Proben, wie Halbleiterbauelemente, Polymere, Keramiken, Metalle, Oxide und Dünnschichten. BH2-RFCA ist mit einer hochleistungsfähigen, hochauflösenden TEM-Spalte ausgestattet, die es ermöglicht, Bilder mit hellen und dunklen Kontrasten zu erfassen. Dies wird mit einer optimierten Kondensatorlinsenausrüstung erreicht, die schnell zwischen hochauflösenden, hochempfindlichen Abbildungsmodi wechseln kann. Die TEM-Säule ist ferner mit einem digitalen Backscatter-Detektor (DBD), einem computergesteuerten Mehrstrahl-Energiefiltersystem und einem Gatan-Abbildungsfilter ausgestattet. Dies ermöglicht die Aufnahme von Bildern mit erhöhtem Kontrast, verbesserter Auflösung und besseren Signal-Rausch-Verhältnissen. Weitere Merkmale von OLYMPUS BH2-RFCA sind eine stufenlos einstellbare Objektivlinse, eine schwingungsarme Umgebungskammer und eine hochpräzise XYZ-Stufe mit Piezoaktor-Gewebehalter. Das Gerät ist auch mit einem erweiterten Bildgebungs- und Analysesoftware-Paket ausgestattet, das eine intuitive Navigation und benutzerfreundliche Bedienung bietet. BH2-RFCA unterstützt eine Vielzahl verschiedener elektronenmikroskopischer Techniken, wie hochauflösende Bildgebung, chemische/strukturelle Kontrastbildgebung und Elektronenbeugung. Dies macht es für eine Vielzahl von Materialien und Anwendungen geeignet, einschließlich Rasterelektronenmikroskopie (SEM) zur Abbildung bei hohen Vergrößerungen, Schwachphasenkontrastbildgebung zur Untersuchung winziger Objekte und Oberflächendefekte und Kikuchi-Beugung zur Bestimmung von Materialstrukturen und Kornorientierungen. Abschließend ist OLYMPUS BH2-RFCA eine fortschrittliche, erschwingliche und benutzerfreundliche TEM-Maschine, die hochauflösende Bildgebung und Strukturanalyse von Materialien mit erhöhtem Kontrast, verbesserter Auflösung und besseren Signal-Rausch-Verhältnissen bietet. Es ist mit einer Hochleistungs-Kondensatorlinse ausgestattet, die zwischen Abbildungsmodi und einem Mehrstrahl-Energiefilterwerkzeug sowie intuitiver und benutzerfreundlicher Bildgebungs- und Analysesoftware für eine Vielzahl von Anwendungen wechseln kann.