Gebraucht OLYMPUS LEXT OLS-5100 #293754754 zu verkaufen

OLYMPUS LEXT OLS-5100 ist eine hochmoderne optische Mikroskopausrüstung für fortschrittliche Anwendungen in der Oberflächenanalyse und Messtechnik in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Bereichen. Dieses Hochleistungsinstrument kombiniert konfokale Laserscanning-Mikroskopie mit Weißlicht-Interferometrie, um außergewöhnliche Bildgebungs- und Messfähigkeiten mit unübertroffener Präzision und Genauigkeit zu bieten. Das OLS-5100 bietet eine umfassende Lösung zur Charakterisierung von Oberflächentopographie, Rauheit, Morphologie und Schichtdicke in einer Vielzahl von Proben, darunter Halbleiter, Metalle, Polymere, Keramik und biologische Materialien. Im Zentrum von LEXT OLS-5100 steht die konfokale Mikroskopie-Technologie für das Laserscannen, die eine berührungslose, hochauflösende Abbildung von Oberflächenstrukturen mit lateraler Submikron-Auflösung ermöglicht. Das System nutzt eine konfokale optische Konfiguration, um Laserlicht selektiv auf die Probenoberfläche zu fokussieren und emittierte Fluoreszenzsignale aus der Fokusebene zu detektieren, was eine dreidimensionale Abbildung von Oberflächenmerkmalen mit außergewöhnlicher Klarheit und Kontrast ermöglicht. Die konfokale Bildgebungsfähigkeit des OLS-5100 ermöglicht es Benutzern, feine Oberflächendetails wie Kratzer, Gruben, Partikel und Defekte mit außergewöhnlicher Tiefendiskriminierung und minimalem Hintergrundrauschen zu visualisieren. Neben der konfokalen Mikroskopie ist OLYMPUS LEXT OLS-5100 mit Weißlicht-Interferometrie-Technologie zur präzisen und genauen Messung der Oberflächenrauhigkeit und Topographie ausgestattet. Die Einheit verwendet eine Weißlichtquelle, um ein Interferenzmuster zu erzeugen, wenn es von der Probenoberfläche reflektiert wird, wodurch eine quantitative Analyse von Oberflächenhöhenvariationen mit vertikaler Subnanometer-Auflösung ermöglicht wird. Durch die Kombination von konfokaler Mikroskopie und Weißlichtinterferometrie bietet das OLS-5100 Anwendern die Vielseitigkeit, umfassende Oberflächenbilder, Messungen und Analysen in einem einzigen Instrument durchzuführen. LEXT OLS-5100 verfügt über eine Reihe fortschrittlicher Funktionen zur Steigerung der Benutzerproduktivität und Effizienz in Oberflächenanalyseanwendungen. Die Maschine ist mit einer motorisierten XY-Stufe für die automatisierte Probenpositionierung und -scannung ausgestattet, so dass Benutzer leicht hochauflösende Bilder aufnehmen und Messungen über große Probenbereiche mit Submikron-Präzision durchführen können. Das OLS-5100 bietet auch intuitive Software-Tools zur Bildaufnahme, -verarbeitung und -analyse, mit denen Anwender wertvolle quantitative Daten zur Oberflächenrauhigkeit, Schritthöhe, Oberfläche, Lautstärke und mehr extrahieren können. Für mehr Flexibilität und Kompatibilität ist OLYMPUS LEXT OLS-5100 mit einer Vielzahl von Bildverarbeitungsmodi ausgestattet, einschließlich Punktscannen, Zeilenscannen, Bereichsscannen und Nähen, um verschiedene Probengrößen und -formen unterzubringen. Das Tool unterstützt eine breite Palette von Objektivlinsen mit verschiedenen Vergrößerungen und numerischen Öffnungen, um Bildauflösung und Schärfentiefe nach spezifischen Musteranforderungen anzupassen. Das OLS-5100 bietet auch mehrere Beleuchtungsoptionen, einschließlich sichtbarer und naher Infrarotlaser, um die Bildgebungsleistung und den Kontrast für verschiedene Probentypen und Oberflächenbedingungen zu optimieren. Zusammenfassend ist LEXT OLS-5100 ein hochmodernes optisches Mikroskop-Asset, das unübertroffene Bildgebungs- und Messfähigkeiten für Oberflächenanalyse und messtechnische Anwendungen bietet. Mit seiner leistungsstarken Kombination aus konfokaler Laserscanning-Mikroskopie und Weißlicht-Interferometrie-Technologien bietet das OLS-5100 Anwendern ein vielseitiges und zuverlässiges Werkzeug zur Charakterisierung von Oberflächentopographie, Rauheit und Morphologie mit außergewöhnlicher Präzision und Genauigkeit. Ob in der Forschung, Entwicklung oder Qualitätskontrolle, OLYMPUS LEXT OLS-5100 ist ein unverzichtbares Instrument für Wissenschaftler, Ingenieure und Forscher, die die komplexen Details von Oberflächenstrukturen auf Mikro- und Nanoebene erforschen wollen.