Gebraucht PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM #9148943 zu verkaufen

PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM (Atomic Force Microscope) ist eine Art Rastersondenmikroskop, das speziell entwickelt wurde, um hochauflösende Bilder der Oberfläche einer Probe auf atomarer Detailebene zu erzeugen. Diese Art von Mikroskop ist einzigartig in seiner Fähigkeit, sowohl weiche als auch harte Oberflächen und Topologie zu messen und abzubilden. Dies geschieht durch eine Kombination aus einem extrem hochauflösenden optischen System und einer computergesteuerten mechanischen Sonde, die zur Erkundung der Probenoberfläche dient. Im Zentrum von AFM stehen zwei Hauptkomponenten: der Sensor und der Ausleger, die beide auf einer starren Plattform montiert sind. Der Sensor ist ein ultrahochauflösendes optisches System, das die Stärke der Hochfrequenzkraft zwischen dem Ausleger und der Probenoberfläche mit Nanometerauflösung messen kann. Dieses Kraftsignal wird dann in ein optisches Bild umgewandelt und kann verwendet werden, um ein unglaublich detailliertes, hochauflösendes dreidimensionales Bild der Probe zu erzeugen, das für eine Vielzahl von Materialien anwendbar ist. Der Ausleger ist ein kleiner Balken mit einer einzelnen Spitze an einem Ende, der typischerweise in einer Richtung senkrecht zur Probenoberfläche ausgerichtet ist. Die Spitze wird dann mit der Probenoberfläche in Kontakt gebracht, um die Kräfte zwischen den Spitzen- und Probenoberflächenatomen und Molekülen sowie Bilder von physikalischen Merkmalen wie Korngrenzen zu messen. Der Ausleger ist mit einem verstellbaren piezoelektrischen Treiber ausgestattet, der die Bewegung und Position der Spitze fein steuern kann. Dadurch kann die Spitze die Oberfläche der Probe mit einer Auflösung in der Größenordnung von Nanometern abtasten, die weit über die Grenze von Standard-optischen Mikroskopen hinausgeht. PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM von PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS verfügt über hervorragende Leistungsmerkmale für die Bildgebung, mit einer Reihe von technologischen Funktionen, die der Optimierung von Genauigkeit und Geschwindigkeit gewidmet sind. Je nach Modell kann AFM eine von vielen Arten von Probenstufen aufweisen, die zur genauen Messung der Position der Probe relativ zum Ausleger ausgelegt sind. Sie kann auch einen Probenscanner aufweisen, der eine bewegliche Anordnung ist, die durch Steuerung der Bewegung der Probe die Größe der zu messenden Fläche verändern kann. PARK SCIENTIFIC INSTRUMENTS AFM ist ein unschätzbares Werkzeug für wissenschaftliche und medizinische Forscher, da es verwendet werden kann, um die Oberflächen verschiedener Materialien wie Halbleiter, Polymere, Proteine und Zellen mit außergewöhnlicher Genauigkeit und Detailtreue zu untersuchen. Es ist in der Lage, Strukturen und Eigenschaften wie Oberflächentopographie, Rauheit, Haftung und Viskoelastizität zu analysieren. Darüber hinaus kann sie verwendet werden, um Veränderungen dieser Eigenschaften im Laufe der Zeit im Nanometermaßstab zu beobachten und wertvolle Einblicke in das dynamische Verhalten von Materialien zu gewähren.