Gebraucht PARK SYSTEMS NX 10 #293819842 zu verkaufen
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ID: 293819842
Weinlese: 2020
Atomic Force Microscope (AFM)
XY scanner
AFM head
Direct onaxis optics
Sample mount
Motorized XY stage
Motorized Z stage,
Motorized focus stage
NX control electronics
PC
Monitors
Cabinet
Table
2020 vintage.
PARK SYSTEMS NX 10 ist ein fortschrittliches Atomkraftmikroskop (AFM) für hochauflösende Bildgebung und Nanoanalyse. Mit modernster Technologie und vielseitigen Fähigkeiten ist NX 10 ein leistungsfähiges Werkzeug für wissenschaftliche Forschung und Nanotechnologie-Anwendungen. Dieses innovative Mikroskop bietet außergewöhnliche Leistung, Präzision und Flexibilität, um den anspruchsvollen Anforderungen von Forschern und Ingenieuren in verschiedenen Bereichen gerecht zu werden. PARK SYSTEMS NX 10 verfügt über ein kompaktes und robustes Design, das Stabilität und Genauigkeit bei der Bildgebung und Analyse gewährleistet. Seine robuste Konstruktion minimiert Vibrationen und äußere Störungen und ermöglicht qualitativ hochwertige Messungen mit Auflösung im Nanometermaßstab. Das Mikroskop ist mit fortschrittlichen Nanopositionierungssystemen ausgestattet, die eine präzise Probenpositionierung und -manipulation ermöglichen und unter verschiedenen Versuchsbedingungen zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse gewährleisten. Eines der Hauptmerkmale von NX 10 ist die hochauflösende Bildgebung. Das Mikroskop verwendet eine ausgeklügelte Rastersondentechnologie, die eine Abbildung der Oberflächentopographie mit Sub-Nanometer-Auflösung ermöglicht. Forscher können nanoskalige Merkmale wie Nanopartikel, Nanoröhren und biologische Proben mit außergewöhnlicher Detailtreue und Klarheit visualisieren. PARK SYSTEMS NX 10 bietet eine breite Palette von Abbildungsmodi, einschließlich Tippmodus, Kontaktmodus und berührungslosem Modus, um verschiedenen Probentypen und experimentellen Anforderungen gerecht zu werden. Neben der hochauflösenden Bildgebung bietet NX 10 erweiterte Nanoanalyse-Fähigkeiten zur Charakterisierung der Materialeigenschaften im Nanobereich. Das Mikroskop ist mit mehreren Abbildungsmodi ausgestattet, die quantitative Messungen mechanischer, elektrischer und magnetischer Eigenschaften von Proben ermöglichen. Forscher können nanomechanische Kartierungen, nanoelektrische Messungen und magnetische Kraftmikroskopie durchführen, um Einblicke in die strukturellen und funktionellen Eigenschaften von Materialien mit beispielloser Präzision zu erhalten. PARK SYSTEMS NX 10 bietet auch automatisierte Bildgebungs- und Analysefunktionen, die experimentelle Workflows optimieren und die Produktivität steigern. Das Mikroskop ist mit benutzerfreundlicher Software ausgestattet, die eine einfache Einrichtung, Datenerfassung und Analyse ermöglicht. Mithilfe der intuitiven Benutzeroberfläche von PARK SYSTEMS können Forscher effizient komplexe Experimente durchführen, detaillierte Berichte erstellen und Ergebnisse mit Kollegen austauschen. Darüber hinaus bietet NX 10 vielseitige Optionen für Probenkompatibilität und Umweltkontrolle. Das Mikroskop unterstützt eine breite Palette von Probengrößen und -formen, einschließlich Standardsubstraten, kundenspezifischen Proben und komplexen Strukturen. Forscher können Proben unter verschiedenen Umweltbedingungen analysieren, wie kontrollierte Temperatur, Luftfeuchtigkeit und Gasatmosphäre, um reale Szenarien zu simulieren und Probenreaktionen unter verschiedenen Reizen zu untersuchen. Insgesamt ist PARK SYSTEMS NX 10 ein anspruchsvolles und vielseitiges AFM, das modernste Technologie mit benutzerfreundlichem Design kombiniert, um außergewöhnliche Leistung in der nanoskaligen Bildgebung und Analyse zu liefern. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen, hochauflösenden Funktionen und automatisierten Funktionen ist NX 10 ein unverzichtbares Werkzeug für Forscher und Ingenieure, die die Grenzen der Nanowissenschaft, Materialwissenschaft, Biologie und andere verwandte Bereiche erkunden.
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