Gebraucht SONOSCAN C-SAM D-6000 #9223694 zu verkaufen

SONOSCAN C-SAM D-6000 ist ein fortschrittliches akustisches Halbleitermikroskop für unübertroffene akustische Bildgebungs- und Analyseanwendungen. Dieses Gerät bietet die neueste akustische Bildgebungstechnologie mit der höchsten Auflösung und enthält mehrere Funktionen, um die höchste Systemleistung und feinste akustische Bildgebungsdaten bereitzustellen. SONOSCAN C-SAM D6000 verwendet Laser-Puls-Echo-Techniken, um akustische Bilder von Dünnschichtmaterialien auf den Oberflächen von Halbleiterscheiben zu erzeugen. Die von der Laseranregungsquelle erzeugten Ultraschallimpulse werden auf die Vorder- und Rückseite des Materials fokussiert und die resultierenden akustischen Signale erfasst und verarbeitet. Dieser Scan erzeugt eine Querschnittsansicht des Materials. C-SAM D-6000 bietet eine außergewöhnliche Auflösung und ist damit das ideale Werkzeug für die Inspektion und Analyse von Materialien im Nanometermaßstab. Es ist auch in der Lage, Mikromodifikationen im Inneren des Materials zu überwachen, wie Suboberflächenfehler, mikroelektrische Komponenten und vergrabene Merkmale. Seine fortschrittlichen Hardware- und Softwarefunktionen machen es auch ideal für die Auswertung von Serienproben. Sein Sichtfeld kann entsprechend der Probengröße angepasst werden, was eine sehr genaue Abbildung ermöglicht. C-SAM D6000 eignet sich gut für die Analyse von IC-Komponenten, MEMS-Strukturen, 3D-Strukturen und zerstörungsfreien Tests an hochauflösenden Lithographiestrukturen. Darüber hinaus kann die spezialisierte Implementierung von Querschnittsabbildungstechniken verwendet werden, um Fertigungsmaterialien gegen bereits vorhandene Konstruktionszeichnungen zu überprüfen, um Abweichungen von der Konstruktion zu erkennen. SONOSCAN C-SAM D-6000 bietet ein umfangreiches Set an Software-Tools, wie die Auto Focus-Funktion, die eine korrekte Fokussierung in Echtzeit ohne manuelle Anpassung gewährleistet. Dieses Gerät ist auch für die Puls- und CW-akustische Bildgebung optimiert und bietet mehr Flexibilität für verschiedene Anwendungen. Neben seinen bildgebenden Funktionen bietet SONOSCAN C-SAM D6000 eine Reihe von Analysefunktionen. Seine erweiterten Signal-/Rauschunterdrückungs- und Pre-Scanner-Funktionen können Eigenschaften wie Schichtdicke und Profilform selbst bei Vorhandensein einer Signalverschmutzung genau messen. Diese Maschine enthält auch einen optimalen Peak-Picking-Algorithmus, um Merkmale mit sehr geringer Amplitude oder hohem Hintergrund SNR zu identifizieren und zu charakterisieren. C-SAM D-6000 ist ein sehr vielseitiges Werkzeug, das den Anforderungen einer Vielzahl von Anwendungen in der Halbleiterindustrie gerecht wird. Seine Genauigkeit, Zuverlässigkeit und erweiterten Funktionen machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für die Analyse jeder Art von Material.