Gebraucht SONOSCAN C-SAM Series D-9000 #9162832 zu verkaufen

SONOSCAN C-SAM Series D-9000 ist eine fortschrittliche akustische Mikroskopie-Ausrüstung zur zerstörungsfreien Mikroskala-Bildgebung und Analyse von Materialien. Unter Verwendung von Ultraschallwellen, die von Probenmaterialien übertragen und reflektiert werden, erzeugt C-SAM hochauflösende, dreidimensionale Bilder, die Details weit über die Grenze der traditionellen optischen Mikroskopie hinaus zeigen. Das Mikroskop D-9000 C-SAM-Serie besteht aus mehreren Schlüsselkomponenten, darunter einem Breitfeld-akustischen Detektionssystem, einem elektromechanischen Scanner, einer digitalen Signalverarbeitungseinheit (DSP) und einer visuellen Anzeigeeinheit, die die Erfassung, Verarbeitung und Visualisierung von Ultraschallbilddaten erleichtert. Seine Weitfeld-Detektionseinheit verwendet piezoelektrische Wandler, die akustische Energie in elektrische Signale umwandeln und die Erfassung von Informationen aus großen Materialmengen ermöglichen. Der elektromechanische Scanner verwendet eine Vielzahl von kombinierten x-y-z Bewegungstechniken, um genau Punkte auszuwählen, an denen die Wandler platziert werden. Mit der DSP-Einheit werden eingehende akustische Daten von einzelnen akustischen Orten verarbeitet sowie Signal-Rausch-Verhältnisse und andere Parameter wie Bildauflösung gemessen. Es enthält einen leistungsfähigen Signalprozessor, einen Frequenzsynthesizer, eine 3D-Datenerfassungsmaschine und eine Auswahl von Bildgebungsmodi. SONOSCAN D-9000 Mikroskop der C-SAM-Serie kann für eine Vielzahl von Inspektionsanwendungen verwendet werden, einschließlich hochauflösender Bildgebung für Anwendungen in der Materialprüfung, Mikrostrukturanalyse, Fehleranalyse und Reverse Engineering. Seine akustischen Abbildungsfähigkeiten werden durch die Fähigkeit, die Probendaten im Querschnittsmodus anzuzeigen, verbessert, was die Analyse von Volumendaten ermöglicht. Die fortschrittliche Bildgebungstechnologie des C-SAM trägt dazu bei, Genauigkeit und Zuverlässigkeit bei der Inspektion mikrostruktureller Merkmale sicherzustellen, indem detaillierte Informationen über die Zusammensetzung und Struktur von Materialien bereitgestellt werden. Es bietet auch eine breite Palette von bildgebenden Modi, von der Mikroskopbildgebung bis zum Makro-View-Scanning, so dass Forscher und Ingenieure verschiedene Aspekte der Materialeigenschaften untersuchen und analysieren können.