Gebraucht SONOSCAN C-SAM Series D-9500 #293598462 zu verkaufen

SONOSCAN C-SAM Series D-9500 ist ein Laserscanmikroskop zur zerstörungsfreien Analyse und Messung sowohl hierarchisch strukturierter Proben als auch nicht hierarchisch strukturierter Proben. Entwickelt von SONOSCAN, einem Spezialisten für Fehlererkennungs- und Analyseinstrumente, verwendet die C-SAM Serie D-9500 einen Laserstrahl, um jede Probenoberfläche zu messen. Der Laserstrahl wird von der Probenoberfläche reflektiert und scannt über die gesamte Probenoberfläche. Der reflektierte Laserstrahl wird dann analysiert, um einen detaillierten Querschnitt der Probenoberfläche bereitzustellen, wodurch eine Fülle von Datenpunkten zurückgegeben wird. Das Laser-Rastermikroskop der C-SAM Serie umfasst eine spezialisierte erweiterte Optik und Detektoren zur Erfassung detaillierter Oberflächentopographie. Diese hochauflösende Optik hat eine laterale Auflösung von 2nm und eine vertikale Auflösung von 0,5 nm. Die C-SAM-Serie ist mit einem hochmodernen digitalen Signalprozessor und einem CCD-Array ausgestattet, um ein integriertes digitales Bildgebungssystem für fortschrittliche Funktionen wie eine dreidimensionale Oberflächenvisualisierung, Oberflächenanalyse und erweiterte Bildanalyse sowie eine Reihe von Bildaufnahmen und Sonden zu ermöglichen. Die C-SAM-Serie verfügt auch über erweiterte Laserscanfunktionen, die eine extrem hohe Empfindlichkeit und Genauigkeit ermöglichen. Das Laserscansystem kann schnell und effizient die gesamte Oberfläche einer Probe mit einer hohen Auflösung von 0,5 Nanometern abbilden. Dies ermöglicht eine detailliertere Analyse der Probenoberfläche, die eine detaillierte Pixelcharakterisierung von Merkmalen wie Nanometer-Skalentopographie, Hohlräume, Vorsprünge und Oberflächenrauhigkeit ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Laser-Scanning-Mikroskop der C-SAM-Serie über eine umfassende Anwendungsserie, die von der Grundmessung bis zur umfassenden Profilanalyse reicht. Dazu gehören ein breites Spektrum an Messverfahren, Bilddatenanalysen und profilometrischen Analysen sowie anspruchsvolle nanoskalige Materialprüfungen und -analysen. Dies ermöglicht eine einfache Messung von Probenprofilen sowie fortschrittliche Werkzeuge für die quantitative Analyse einer Vielzahl von Materialien. SONOSCAN C-SAM Series D-9500 eignet sich auch für eine Reihe von Probentypen, die von einer Vielzahl von Oberflächen wie Metallen, Keramiken und Verbundwerkstoffen bis hin zu geologischen Proben und Bioproben reichen. Zusammenfassend ist die C-SAM-Serie D-9500 ein fortschrittliches Laserscanmikroskop, das eine Reihe von Probentypen analysieren kann. Es verfügt über hochauflösende Optik- und Laserscantechnologie sowie eine umfassende Anwendungssuite, die eine Reihe von Messungen und Analysen ermöglicht. Damit ist die SONOSCAN C-SAM Serie D-9500 ein ideales Instrument sowohl für hierarchische als auch nicht-hierarchische Strukturen und liefert detaillierte und genaue Ergebnisse.