Gebraucht VEECO Contour GT-X3 #9248833 zu verkaufen
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ID: 9248833
Wafergröße: 8"-12"
Weinlese: 2011
3D Optical microscope, 8"-12"
Manually loaded
X,Y Stage: 12" x 12"
Field of view: 0.5 mm to 2.0 mm
Auto tip tilt stage
(4) Motorized position turrets
Maximum scan range: Up to 10 mm
PC
Operating system: Windows 7
Vertical resolution:
0.05 nm (Motor)
0.01 nm (PZT)
RMS Repeatability:
0.01 nm (Motor)
0.004 nm (PZT)
Lateral resolution:
0.38 μm Minimum (Sparrow criterion)
0.13 μm (With AcuityXR)
0.01 μm (With NanoLens)
Step height accuracy: <0.75%
Step height repeatability: <0.1% 1 Sigma repeatability
Maximum scan speed: 114μm / sec (With standard camera)
Sample reflectivity: 0.05% - 100%
Maximum sample slope
Shiny surfaces: Up to 40°
Rough surfaces: Up to 87°
XY Sample stage: 8" Automated
Encoders: 0.5 μm
Z Focusing, 4" Automated
Tip / Tilt function: ±6° Automated
Computer-controlled tip / Tilt head
Optical metrology module:
Patented dual-LED illumination
Single-objective adapter
Optional automated or manual turret
Objectives:
Parfocal: 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 115x
LWD: 1.5x, 2x, 5x, 10x
TTM: 2x, 5x, 10x, 20x
Bright field: 2.5x, 5x, 10x, 50x
Zoom lenses: 0.55x, 0.75x, 1x, 1.5x, 2x Auto-sensing modules
Camera:
Standard monochrome: 640 x 480
High-resolution monochrome (Option): 1392 x 1040
Color (Option): 640 x 480
XY Automation:
Automated stitching scatter and grid automation
Calibration via traceable step standard
2011 vintage.
VEECO Contour GT-X3 ist ein fortschrittliches, automatisiertes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Anwendern eine hervorragende Bildgebungsleistung bietet. Es nutzt eine Kombination aus Hochspannungselektronenenergie, einer mehrachsigen, automatisierten Probenstufenabtastung und einer akribischen Ausrichtung der Mikroskopkomponenten als drei Hauptkomponenten, aus denen die SEM-Technologie besteht. Seine primäre Anwendung liegt in der Untersuchung von Oberflächenmerkmalen auf der Nanometerskala mit hochauflösender Bildgebungsfähigkeit. Die Hauptkomponenten von Contour GT-X3 sind die elektronenoptische Säule, die Probenstufe und der Probenhalter. Die elektronenoptische Säule enthält fokussierte Elektronenoptik und Pistole, die Glashülle der Säule und die Immersionslinse. Die Probenstufe besteht aus einer 3-achsigen, automatisierten Probenbewegung mit einem Bereich von ± 20mm in X-, Y- und Z-Achsen. Diese Probenstufe umfasst die sekundären und tertiären Elektronendetektoren, die eine hochauflösende Abbildung von Probenmerkmalen ermöglichen. Der Probenhalter ist entworfen, um eine Vielzahl von Probenmedien einschließlich Wafer, Glasrutschen und andere Materialien unterzubringen. Neben der elektronenoptischen Säule und der Probenstufe verfügt VEECO Contour GT-X3 über ein spezielles Steuer- und Erfassungssystem zur präzisen Ausrichtung des Elektronenstrahls und zur automatisierten Bilderfassung. Das Steuer- und Erfassungssystem verbessert die Abbildungsfähigkeit des Mikroskops weiter, indem es die Probenbewegung, Detektormessungen, Datenerfassung, Softwarefunktionen und Fernsteuerung des Mikroskops steuert. Contour GT-X3 ermöglicht Benutzern den Zugriff auf eine Vielzahl von Funktionen wie automatisierte Bildregistrierung, fortschrittliche Histopathologie und Ausrichtung der Scanoptik. Darüber hinaus kann das Gerät automatisierte und präzise Messungen mit der Möglichkeit der Echtzeit-Bildverarbeitung und -analyse durchführen. Darüber hinaus bietet das Mikroskop ein innovatives Feature für die Hochgeschwindigkeits-Videobildgebung von Proben, das Forschern die Möglichkeit bietet, Proben vollautomatisch abzubilden oder den Betrieb des Mikroskops in Makro- und Mikroskalen fernzusteuern. Abschließend ist VEECO Contour GT-X3 ein fortschrittliches, automatisiertes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Anwendern eine hervorragende Bildgebungsleistung bietet. Es enthält eine Reihe von Funktionen für die Vielseitigkeit und Flexibilität der Endbenutzer und bietet erweiterte Funktionen wie automatisierte Bildregistrierung, fortschrittliche Histopathologie und Ausrichtung der Scanoptik. Contour GT-X3 ist das perfekte Werkzeug für jeden Forscher oder Ingenieur, der ein zuverlässiges Bildgebungssystem benötigt, um hochauflösende Bilder im Nanometermaßstab zu erhalten.
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