Gebraucht VEECO / DEKTAK Dimension 3100 #9261419 zu verkaufen

VEECO / DEKTAK Dimension 3100
ID: 9261419
Atomic Force Microscope (AFM) Nanoscope V Controller included.
VEECO/DEKTAK Dimension 3100 ist ein hochpräzises, modernes SPM (Rastersondenmikroskop), das hochauflösende Messungen der Topographie, Spender- und Akzeptordichte und des Widerstandes von Halbleitermaterialien und -geräten ermöglicht. VEECO Dimension 3100 bietet eine große Auswahl an leistungsstarken Funktionen, um Anwendern größere Einblicke in ihre Proben zu ermöglichen. wie die Advanced AutoCenter-Technologie zur einfachen und präzisen Ausrichtung von Proben, manuelle und automatisierte Auto-Null-Funktion zur Reduzierung von Umgebungsgeräuschen, vielseitige optische Konfigurationen zur Messung eines breiten Spektrums von Kontakt- und berührungslosen Modusmessungen, und Raman-Spektrometrie zur Messung spezifischer elektrischer Eigenschaften im Zusammenhang mit der Art des untersuchten Materials. DEKTAK Dimension 3100 bietet auch fortschrittliche Messungen wie Long Scan-Messungen, spezialisierte AFM (Atomkraftmikroskopie) -Techniken, eine große Auswahl an gut gestalteten Bildgebungswerkzeugen sowie spektroskopische Messungen und elektrische Messungen. Mit einem beeindruckenden XY-Scanbereich von 10 μ m und einem Z-Bereich von 0,4 μ m bietet Dimension 3100 die Möglichkeit, breitflächige Kartierungen und Feinskalenanalysen mit extrem hoher Auflösung durchzuführen. Es ist auch möglich, relativ schnell Daten mit einer Abbildungsgeschwindigkeit von 5-20 Hz zu erfassen. VEECO/DEKTAK Dimension 3100 ist mit einer robusten Konstruktion gebaut und für extrem niedrige Vibrationen optimiert, um eine möglichst genaue, detaillierte Bildgebung zu gewährleisten. Es ist sowohl an die manuelle als auch an die Computersteuerung anpassbar, perfekt für Benutzer, die die ultimative Messflexibilität wünschen. Das große Bedienungsfenster und die benutzerfreundliche Oberfläche sorgen auch für eine einfache Bedienung. Darüber hinaus ermöglicht die Software mit VEECO Dimension 3100 die Datenerfassung und -analyse, das interaktive parametrische Mapping und die schnelle Analyse von aufgenommenen Bildern. Insgesamt ist DEKTAK Dimension 3100 ein fortschrittliches, leistungsstarkes Rastersondenmikroskop, das den Anwendern hochgenaue Messungen und wertvolle Erkenntnisse bietet. Seine vielseitigen Eigenschaften, robuste Konstruktion und benutzerfreundliche Oberfläche machen es zu einem bemerkenswerten Instrument für die Untersuchung von Materialien und Geräten, die in einer Reihe von wissenschaftlichen Bereichen verwendet werden.
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