Gebraucht VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9285850 zu verkaufen

VEECO / DEKTAK Dimension X3D
ID: 9285850
Wafergröße: 12"
Atomic Force Microscope (AFM), 12".
VEECO/DEKTAK3 VEECO/DEKTAK Dimension X3D ist ein hochmodernes 3D-Oberflächenmess-/Profilometriewerkzeug für die nanoskalige Messtechnik und Charakterisierung verschiedener Materialien. Es basiert auf den neuesten optischen, mechanischen und Automatisierungstechnologien und bietet präzise und kostengünstige Datenerfassungsfunktionen. Das X3D verfügt über ein einzigartiges optisches Design, das eine kompakte XY-Piezo-Bühne, eine hochauflösende CCD-Kamera, laserbasierte Tiefensensoren und eine fortschrittliche Farboptik umfasst. Die einheitliche Softwareplattform bietet eine intuitive Benutzerschnittstelle und leistungsstarke Datenanalysewerkzeuge, einschließlich der Echtzeit-3D-Oberflächendatenvergegenwärtigung, statistischen Analyse und automatisierten Berichtsgeneration an. Das X3D nutzt die optische Profilometrie-Technologie, um die Oberflächenform und Rauheit von Objekten über alle drei Dimensionen hinweg genau zu messen. Das Werkzeug verwendet eine Laserlinie, die auf die Oberfläche der Probe projiziert wird, und eine komplementäre Kamera, um die Konturen und Höhenunterschiede der Probe mit einer Genauigkeit bis zur Nanometerskala zu erfassen. Die in der X3D verwendeten Laserquellen sind einstellbar, um hochauflösende und schnelle Erfassungsfunktionen zu liefern, und das System verwendet mehrere Laser, um die Stabilität und Genauigkeit zu verbessern. Das X3D ist in der Lage, mikro- und nanoskalige Strukturen zu messen und winkelförmige, gekrümmte und schiere Merkmale genau zu erfassen. Das X3D bietet mit seiner motorisierten Sub-IMG-Plattform eine robuste und präzise Ausrichtung und Steuerung, die präzise Oberflächenmessungen mit Geschwindigkeit und Wiederholbarkeit ermöglicht. Die verbesserte Optik ermöglicht bessere Datenerfassungsfunktionen und eine verbesserte Auflösung. Das Hochgeschwindigkeitskamerasystem bietet Echtzeit-Feedback und schnelle Bildaufnahme. Die vom Instrument erzeugten 3D-Daten sind kompatibel mit einer Vielzahl von Datenanalyse-Tools, einschließlich 3D-CAD-Bildgebung und Oberflächenanalyse-Software. VEECO Dimension X3D ist ein ideales Werkzeug zur Charakterisierung eines breiten Materialspektrums, von Halbleiter- und Biomaterialien bis hin zu neuen Alterspolymeren, Keramiken und Verbundwerkstoffen. Es bietet eine außergewöhnliche Kombination aus Genauigkeit, Auflösung, Geschwindigkeit und Dynamikbereich und ist damit ein unschätzbares Mess- und Charakterisierungswerkzeug für Industrie- und Forschungsanwendungen. Das X3D hat sich als leistungsstarke und zuverlässige messtechnische Lösung erwiesen, um nanoskalige Oberflächeninformationen mit beispielloser Genauigkeit und Präzision zu erhalten.
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