Gebraucht VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9298810 zu verkaufen

VEECO/DEKTAK Dimension X3D microscope ist ein hochauflösendes Rastersondenmikroskop (SPM) zur Messung der Oberflächentopographie im mikroskopischen Maßstab. Es wird verwendet, um Oberflächenprofile mit Nanometerauflösung zu messen und zu analysieren. VEECO Dimension X3D besteht aus vier wesentlichen Komponenten: der SPM-Kopf, der den Mechanismus für die Erstellung und Erkennung der Spitze-Probe-Interaktion beherbergt; eine Antriebs- und Steuereinheit; ein Mikroskop, das die bildgebenden und optischen Komponenten enthält; und ein Computersystem, das zur Steuerung und Datenanalyse verwendet wird. Der SPM-Kopf kann Proben in jeder Richtung in drei Dimensionen mit Geschwindigkeiten bis zu 2000 nm/sec scannen. Ein Vakuumfutter hält die Probe fest, und entweder XY- oder XYZ-Stufen können zur präzisen Probenpositionierung auf Mikron- und Nanometerebene eingesetzt werden. Mit den richtigen Sonden und Auslegerspitzen ist DEKTAK Dimension X3D in der Lage, eine Vielzahl von Oberflächenbildmodi wie Kontaktmodus und berührungsloser Modus durchzuführen. Im Kontaktmodus (auch „Kraftmodus“ genannt) wird eine Wechselwirkungskraft durch eine scharfe Spitze (meist eine Silizium-AFM-Sonde) erzeugt, die über die Oberfläche der Probe gescannt wird. Die berührungslose Bildgebung (auch „Tippmodus“ genannt) erfolgt durch die oszillatorische Bewegung (Tippen) der Auslegerspitze über der Probenoberfläche, wodurch eine zerstörungsfreie, niedrige Kraftwechselwirkung entsteht. Dimension X3D Mikroskop ist komplett mit Hochleistungssoftware zur Datenerfassung und -analyse. Es verfügt über Kantenerkennungs- und Oberflächenbildfunktionen, mit denen Benutzer Oberflächenelemente genau messen können. Darüber hinaus ist die Einheit in der Lage, die berührungslosen Bewegungs- und Kraftverläufe zu messen. VEECO/DEKTAK Dimension X3D Maschine ist ein Uptime-Arbeitstier, der lange, ununterbrochene Bildgebungszeiten ohne Überhitzung ermöglicht. Es ist intuitiv zu bedienen und kann mit wenigen Handgriffen schnell in die Tat umgesetzt werden. Insgesamt ist VEECO Dimension X3D eine ausgezeichnete Option für Forscher, die ein zuverlässiges und genaues SPM-Werkzeug benötigen, um die Oberflächentopographie der Nanometerskala zu messen. Mit seiner relativen Benutzerfreundlichkeit und hervorragenden bildgebenden Fähigkeiten ist es eine ideale Wahl für jede Anwendung, die die Beobachtung von Materialien auf der Nanoskala erfordert.