Gebraucht VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9390606 zu verkaufen

VEECO / DEKTAK Dimension X3D
ID: 9390606
Atomic Force Microscopes (AFM).
VEECO/DEKTAK Dimension X3D, ist ein Hochleistungs-Vertikal-Rastermikroskop für den Einsatz in einer breiten Palette von messtechnischen und mikroskopischen Anwendungen. Das X3D verfügt über eine integrierte Vision-Ausrüstung, die einen hochauflösenden Bildsensor 2048 x 2048 für die Top-Down-Betrachtung der Probe verwendet. Das X3D ist eines der genauesten und wiederholbarsten vertikalen Rastermikroskope, mit einer möglichen Auflösung von 1 nm entlang der z-Achse und bis zu 0,1 um für x- und y-Achsen-Messungen. Die X3D bietet eine hervorragende Wiederholbarkeit für Messdaten. Das X3D enthält eine Vielzahl von Funktionen, die eine hohe Genauigkeit und wiederholbare Messungen gewährleisten. Die X3D nutzt ein rastergemustertes Beleuchtungssystem, das eine gleichmäßige Intensität über den Probenbereich liefert. Dies sorgt für eine gleichmäßige Beleuchtung, was die Genauigkeit beim Scannen und Messen der Höhe erhöht. Zum X3D gehört auch eine leistungsstarke Bildverarbeitungseinheit mit bis zu 32facher Vergrößerung, die eine detaillierte Probenbildgebung ermöglicht. Die Maschine ist in der Lage, helle Feld, Dunkelfeld und Fluoreszenz Bildgebung, sowie automatisierte on-the-fly Messberechnungen. Das X3D umfasst eine Vielzahl von Betriebsmodi, einschließlich Scan, Karte, Neigung und Höhe. Diese ermöglichen es dem Benutzer, topographische Karten zu erzeugen, Messungen zu kalibrieren und zu verifizieren und erweiterte messtechnische Anwendungen durchzuführen. Der Scan-Modus ermöglicht es dem Benutzer, 2D-Scans zu erzeugen, während der Map-Modus automatisch hochauflösende 3D-topografische Karten mit einer Positionsgenauigkeit von bis zu 0,15 Mikrometern erzeugt. Der Neigungsmodus führt projektive topographische 3D-Oberflächenmessungen an Proben mit Winkeln von bis zu 70 ° durch, so dass Benutzer Oberflächenrauhigkeiten und nicht planare Profile analysieren können. Der Höhenmodus misst die absolute Höhe mit einer Positionsgenauigkeit von bis zu 0,3 Mikrometern. Eines der beliebtesten Merkmale des X3D ist die Metrology Package Software, die den gesamten Messvorgang von der Kalibrierung bis zur Datenerfassung automatisiert. Diese Funktion reduziert kritische Bedienungsfehler und erhöht die Gesamtgenauigkeit und den Durchsatz der Messungen. Das X3D verfügt zudem über einen großen Bühnenbereich mit optionalen XY-Antrieben mit motorisierten Antrieben von bis zu 150 mm. Diese Funktion bietet einen großen Arbeitsbereich für eine Reihe von Anwendungen, von der Materialforschung bis zur Gerätetechnik. Das X3D ist das ideale Mikroskop für Forscher und Ingenieure, die nach einem zuverlässigen, wiederholbaren Messwerkzeug suchen. Dank seiner leistungsstarken Bildgebungsfunktionen und Messfunktionen ist es für eine Vielzahl von Anwendungen gut geeignet. Vom routinemäßigen berührungslosen Scannen bis zur ultrapräzisen hochauflösenden Messung ist das X3D das perfekte Werkzeug, um die Arbeit zu erledigen.
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