Gebraucht VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9396852 zu verkaufen

ID: 9396852
Weinlese: 2005
Atomic Force Microscopes (AFM) 2005 vintage.
VEECO/DEKTAK Dimension X3D ist ein fortschrittliches optisches Mikroskop für präzise und detaillierte 3D-Oberflächentopographiemessungen. Es ist in der Lage, Nanometer-Skala Oberflächenmapping mit einem Fußabdruck, der fünfmal kleiner als herkömmliche berührungslose/berührungslose Profilometer ist. Das X3D nutzt eine berührungsfreie, zerstörungsfreie VSI-Technik (Vertical Scanning Interferometer) für 3D-Messungen. Das Gerät projiziert einen Infrarot-Laserstrahl doppelpassend auf die Oberfläche und erfasst die Interferenz zwischen Probe und Referenzstrahl, aus der das Gesamtprofil der Probe berechnet wird. Das X3D verfügt über ein verbessertes Interferometer-basiertes System mit verbesserten Datenerfassungs- und Analysefunktionen. Es verwendet mehrere Luftlagerstufen für Hochleistungs-Neigungskorrektur für das Scannen über gekrümmte Oberflächen. Dies ermöglicht eine genaue Oberflächenmessung sowohl flacher als auch gekrümmter Proben. Der Mikroskopmesskopf des X3D ist hochgradig vibrationstolerant, bietet sehr geringe Geräuschpegel und verfügt über hervorragende Leistungsfähigkeit. Es weist außerdem eine proprietäre schwingungsdämpfende Struktur zur Stabilisierung des Scankopfes mit physikalischer Rückkopplung auf. Das Gerät verfügt über eine eingebaute thermische Kompensationsmaschine zur Steuerung der temperaturbedingten Drift in den Messungen. Dadurch wird sichergestellt, dass die Daten gleichmäßig verteilt und auf der Oberfläche exakt dargestellt werden. Das X3D verfügt auch über ein leistungsfähiges, ausgefeiltes Softwarepaket, um das Mikroskop zu steuern und die aufgenommenen Bilder zu analysieren. Die Software kann eine Reihe von Anwendungen bereitstellen, einschließlich Oberflächenrauhigkeit und Konturcharakterisierung, Texturanalyse, 3D-Profilmapping und Peak/Valley-Messungen. Das X3D ist eine ideale Lösung für hochpräzise Oberflächenmesstechnik und Mikroflächenprüfung. Es wurde sowohl für Industrie- als auch für akademische Wissenschaftler konzipiert und liefert zuverlässige Ergebnisse mit hoher Präzision. Es bietet eine erschwingliche und einfach zu bedienende Lösung für detaillierte 3D-Kartierung von Oberflächen.
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