Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS CP-II CP 0100 #9233894 zu verkaufen

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS CP-II CP 0100 ist ein fortschrittliches Forschungsmikroskop für Atomic Force Microscopy (AFM) und Rastertunnelmikroskopie (STM). VEECO CP-II CP 0100 hat eine schnelle Scangeschwindigkeit von bis zu 25Hz, so dass Forscher Materialproben schnell und genau scannen können. DIGITALE INSTRUMENTE CP-II CP 0100 verfügt über eine geschlossene Abtast- und Rückkopplungsausrüstung. Dieses System überwacht die Position des Scankopfes, um präzise Bewegungen auch bei schnellster Scangeschwindigkeit zu gewährleisten. Das Mikroskop ist mit einem Probenhalter ausgestattet, der für wiederholte Messungen verriegelt werden kann und eine verbesserte Konsistenz in der Analyse bietet. CP-II CP 0100 verfügt über eine große konjugierte Objektivlinse, die es dem Mikroskop ermöglicht, hochauflösende Bilder zu erfassen und Proben genau zu messen. Das Mikroskop verfügt außerdem über eine proprietäre „Datenbank“, mit der Benutzer Daten schnell und genau zwischen verschiedenen Probensätzen speichern, abrufen und vergleichen können. Dieses Mikroskop ist mit einem hochmodernen Elektronikpaket ausgestattet. Es hat hohe Leistung und rauscharme Verstärker, für ausgezeichnete Signal-Rauschen-Verhältnisse. Es ist auch mit einer breiten Palette von Wandlern ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglichen, Daten unter Berücksichtigung einer Reihe von Parametern wie Temperatur, Feuchtigkeit und elektrischen Strom genau zu erfassen. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS CP-II CP 0100 verfügt über eine elegante Benutzeroberfläche, mit der Anwender die gewünschten Einstellungen einfach auswählen können. Die Schnittstelle zeigt auch detaillierte Informationen über die aus den Proben gewonnenen Messungen wie topographische Bilder, Kraftspektroskopiekurven und Spektren an. Das Mikroskop ist auf einem starren und dennoch leichten Rahmen aufgebaut, der eine hervorragende Stabilität für lange und genaue Scanvorgänge bietet. Das Mikroskop verfügt über eine eingebaute XY-Scaneinheit und eine Vakuumkammer, die die Probe vor atmosphärischen Effekten schützt und somit präzise Messungen auch unter schwierigsten Bedingungen ermöglicht. Zusammenfassend ist VEECO CP-II CP 0100 ein fortschrittliches Forschungsmikroskop, entwickelt für Atomic Force Microscopy (AFM) und Scanning Tunneling Microscopy (STM). Es bietet schnelle Scangeschwindigkeiten von bis zu 25 Hz und verfügt über ein hochauflösendes konjugiertes Objektiv. Es verfügt über eine geschlossene Rückkopplungsmaschine, eine Datenbank zur Informationsspeicherung, eine Reihe von Wandlern und eine elegante Benutzeroberfläche. Dieses Mikroskop eignet sich für die Forschung in einer Vielzahl von Anwendungen.