Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS D3100V #9292569 zu verkaufen

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS D3100V Serie Scanning Probe Microscope (SPM) ist ein hochmodernes Bildgebungs- und Messsystem, das verbesserte Messungen in Topographie und Geometrie ermöglicht. Diese Serie ermöglicht die Charakterisierung von Materialien, Oberflächen und Schnittstellen bis zu einer Nanometerauflösung. Es verfügt über einen empfindlichen Kontaktmodus, mit dem Messungen mit stabiler Kraft für eine genaue Bildgebung durchgeführt werden können. VEECO D3100V Serie ermöglicht das Studium der Topographie und Geometrie durch die hochauflösende 3D-Bildgebung, variable Arbeitsabstände und eine Vielzahl von austauschbaren Sonden einschließlich der standardmäßig geschärften Spitze und verschiedenen Siliziumspitzen. DIGITAL INSTRUMENTS D3100V Serie verfügt über ein Edge-on-View-optisches Mikroskop, einen Autofokus-Mechanismus und ein integriertes Lasersystem mit einem HeNe-Laser oder dem 532nm Argonlaser. Diese Serie ist aslo mit Piezostufe ausgestattet, die eine höhere Winkelauflösung und geringere Laserinterferenz ermöglicht. D3100V Serie enthält intuitive Software, die Befehle an das SPM sendet, um eine vertikale, gleichmäßige Abtastung mit einem Kraftmessstift durchzuführen. Es bietet eine Vielzahl von erweiterten Funktionen wie AutoView, die den Antriebsspiegel, Piezoskala, optischen Zoom und optischen Fokus automatisch synchronisiert, um die Ausrichtung zwischen allen Teilen des optischen Zuges beizubehalten. Darüber hinaus enthält es einen virtuellen Stift, der es dem Benutzer ermöglicht, Topographiebilder mit wiederholbarer Präzision zu erfassen. Weitere Merkmale sind ein programmierbarer Wellenformgenerator, der eine dynamische Manipulation der Spitze ermöglicht. Dies hilft, die Oberflächen genau zu messen und die Flexibilität der Messfunktionen zu erhöhen. Die Funktion zur automatischen Ausrichtung des Scanfelds steckt Probe und Zeiger automatisch an, was zu einer präzisen Abbildung führt. Außerdem können Benutzer mit der farbgrafischen 3D-Oberflächenanzeige schwer zu messende Oberflächenstrukturen und KEs visualisieren. Insgesamt bietet VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS D3100V Serie Scanning Probe Microscope verbesserte Bildgebungsfunktionen mit Funktionen wie Autofokus, variable Arbeitsabstände, austauschbare Sonden, intuitive Software und programmierbare Wellenformen, die helfen, genaue und wiederholbare Messungen zu erfassen. Es wurde entwickelt, um Material, Oberflächen und Schnittstellen bis zu einer Nanometerauflösung genau zu messen.