Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3000 #9300087 zu verkaufen

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3000 ist ein Weltklasse-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Forschung in den Bereichen Materialcharakterisierung und Nanotechnologie. Es bietet fortschrittliche Technologie für fortschrittliche Bildgebung und die genauesten Messungen in seiner Klasse. VEECO Dimension 3000 verfügt über ein verbessertes optisches Design, das einen integrierten analytischen Modus für Bilder höherer Auflösung umfasst. Darüber hinaus verfügt es über eine hochmoderne Sensorik und das neueste Vakuum-Testsystem zur Überwachung der Qualität des Vakuumzustands. Das SEM ist mit einer Hochleistungselektronenkanone und mehreren Probenstufen für mehr Vielseitigkeit ausgestattet. Es ist auch in der Lage, variablen Druckbetrieb für die Untersuchung von Flüssigkeiten und biologischen Materialien. Die integrierte elektronenoptische Säule verfügt über eine patentierte Flüssigkeitslinsen-Vakuum-Testeinheit für maximale Elektronendetektorleistung. Ebenfalls enthalten ist das einzigartige Peltier-Fokuslaufwerk, das in der Lage ist, Submikron-Genauigkeit bereitzustellen. Die patentierte Bias Network Technology bietet einen hohen Bildkontrast bei minimaler Strahlverzerrung. Darüber hinaus bietet DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3000 extra lange Bildaufnahmezeiten und genaue Messungen kleiner Merkmale über eine breite Palette von Vergrößerungen. Die effiziente Design- und Steuerungsmaschine der Dimension 3000 ermöglicht benutzerdefinierte Einstellungen und mehr Flexibilität. Das Steuerwerkzeug umfasst variable Elektronenstrahleinstellungen, Strahlstrombereiche sowie Bild- und Ebeneneinstellungen. Benutzer können die Farbbalance und den Kontrast so anpassen, dass sie am besten zu ihrer Anwendung passen. Das Steuerelement verfügt auch über eine 3D-Abbildung der Oberfläche und des Prüflings. Das SEM eignet sich gut für den Einsatz in Forschung und Industrie, die eine Charakterisierung von Materialien und Geräten erfordern. Es ist ideal für Elektronenmikroskopie, Metallographie, Materialforschung, Nanotechnologie, Halbleiterprozesse und Fehleranalyse. Das SEM verfügt über hervorragende Bildgebung, präzise Messungen und konkurrenzlose Leistung.