Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 S-1 #9194106 zu verkaufen

ID: 9194106
Weinlese: 2004
Atomic force microscope 2004 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 S-1 ist ein Rastertunnelmikroskop (STM), das entweder in konstanten Strom- oder konstanten Höhenmodi arbeiten kann. Dieses Instrument wird verwendet, um Oberflächenmorphologien, nanoskalige elektrische Leitfähigkeit und topographische Merkmale und andere Eigenschaften von Materialien und Strukturen zu untersuchen. VEECO Dimension 3100 S-1 verfügt über ein großes Sichtfeld, mit der Fähigkeit, bis zu 200 nm in der Größe mit einer kristallklaren Auflösung von 1,3 p.m. Ein digitaler Kameraanschluss ermöglicht die Abbildung von Dokumenten auf dem Mikroskop. Ein Mikrograph der Oberfläche kann auf dem integrierten farbigen LCD-Display angezeigt werden. Das Mikroskop ist mit einer optischen Steuerung und einem Joystick ausgestattet, um die x-, y- und z-Achse leicht zu bewegen. Dies ermöglicht die genaue Bewegung, die für die genaue nanoskalige Untersuchung und Messung von Merkmalen erforderlich ist. Im Konstantstrommodus erzeugt das STM Bilder und misst Tunnelstrom mit vertikalen und lateralen Auflösungen von 0,6 nm. Das Mikroskop ist in der Lage, topographische Messungen automatisch durch Einstellung einer konstanten Kontaktkraft durchzuführen. Die Z-Bewegungen (z-Piezo) können bis zu 100 µm eingestellt werden. Das Gerät ermöglicht vollautomatische Messungen mit integrierter Steuerung. Das System ist softwaregesteuert und unterstützt eine Vielzahl von STM, Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Atomkraftmikroskopie (AFM) und anderen bildgebenden Verfahren. DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 3100 S 1 ist auf die Bedürfnisse des Maschinenbaus, der Physik und der Materialwissenschaften ausgelegt. Das Mikroskop eignet sich zur Messung lokaler elektrischer Eigenschaften von Oberflächen, hochempfindlicher Bildgebung, elektrischer Feldverbesserung, Tunnelstrommessung und Lithographie. Es wird auch zur Untersuchung von Nanostrukturen sowie für Studien zur Oberflächencharakterisierung verwendet. Dimension 3100 S-1 ist ein leistungsstarkes und einfach zu bedienendes Rastertunnelmikroskop. Es ist in der Lage, präzise Messungen und Bildgebung mit hohen Auflösungen sowohl in der Höhe als auch im aktuellen Modus durchzuführen. Dieses Instrument eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen in der Physik, Oberflächenwissenschaft und Materialforschung.
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