Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293586981 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 293586981
Atomic Force Microscope (AFM)
TFT, 19"
Vacuum chuck
DTR Torsional resonance mode
VT-103-3K-2 Integrated acoustic / Vibration isolation enclosure
NanoScope IVA SPM Control station:
Quadrex Extender electronics with on-board lock-in amplifier
Q-Control
High-speed DSP and SPM computer interface electronics
(6) Analog-to-digital converters
(4) Digital-to-analog converters
Dual monitor color display resolution: 32-Bit, 2048 x 768 pixels
(3) Scanning axes resolution: 16-Bit
Operating system: Windows XP
CE Compliant
Oscillator reference signal:
Line sync (End-of-line)
Frame sync (End-of-frame)
Quadrex Lock-in
Scanning probe microscope:
Samples: Up to 200 mm diameter and 12 mm thick
Magnetic sample holder included for samples less than 15mm diameter and 6mm thick
TrakScan Laser tracking system
Inspectable area: 120 mm x 100 mm
Stage resolution: 2 µm
Vacuum pump
Silicone vibration pad
Motorized optical focus:
Range: 285x - 1285x
Viewing area: 150 µm - 675 µm
Resolution: 1.5 µm
Computer control LED illuminator
Scanning tunneling
Force modulation (air and fluid)
Tapping mode (fluid) microscopy
Nano indenting / Scratching, scanning thermal microscopy
Scanning capacitance microscopy
Repeatability:
Unidirectional: 3 µm (typical), 10 µm (maximum)
Bidirectional: 4 µm (X-axis) and 6 µm (Y-axis), typical
Dimension Hybrid XYZ SPM Microscope head:
Ultra low noise 3-axis closed loop scanner
Scanner
Horizontal imaging area: 90 µm x 90 µm (Nominal maximum)
Vertical range: 9 µm (Nominal), 8 µm (Nominal minimum) in imaging mode
Tip holder
TrakScan Optical lever position detection system
VT-102 Vibration isolation table:
Base with (4) air suspension columns
Required air pressure: 0.8 bar
Minimum door diameter: 70 cm
Size: 610 mm x 610 mm x 787 mm.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist ein hochmotorisiertes, vielseitiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop (SEM). Für die wissenschaftliche und industrielle Forschung entwickelt, wird dieses hochmoderne Mikroskop verwendet, um genaue und detaillierte Bilder und Informationen über die physikalischen, chemischen, strukturellen und elektrischen Eigenschaften einer Probe zu erhalten. Das System verfügt über einen energiedispersiven Röntgenstrahldetektor (EDX) und eine verbesserte Probenkammer mit variablem Druck. Der EDX-Detektor ermöglicht Messungen der elementaren Zusammensetzung einer Probe, während die variable Druckkammer die Benutzereffizienz und Flexibilität verbessert, indem Probentests ohne Evakuierung durchgeführt werden können. VEECO Dimension 3100 bietet sowohl Dualbeam als auch analytische SEM-Modi und bietet Anwendern eine Reihe von Funktionen und Analysemöglichkeiten. Der Dualbeam-Modus umfasst einen fokussierten Ionenstrahldetektor (FIB), der eine präzise Änderung einer Probenstruktur sowie die Abbildung vergrabener Merkmale ermöglicht. Der analytische SEM-Modus des Systems bietet dank seiner fortschrittlichen, aber benutzerfreundlichen Bildgebungssoftware genaue strukturelle, kompositorische und dimensionale Charakterisierungen. Das System umfasst auch eine beeindruckende Auswahl an Zubehör, wie Backscatter Electron (BSE) Detektoren, Kryostagesysteme, Nanoskopstufen und weiträumige Ionenstrahldetektoren. Dieses Zubehör ermöglicht eine detaillierte dynamische Analyse und 3D-Bildgebung von Proben. Die Robustheit und Zuverlässigkeit von DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 machen es zu einem idealen Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Materialforschung über die Qualitätskontrolle bis hin zur Entwicklung von Halbleiterbauelementen. Mit seinen überlegenen bildgebenden Fähigkeiten, integrierter Software und vielseitigem Zubehör ist Dimension 3100 ein zuverlässiges und benutzerfreundliches Werkzeug für wissenschaftliche und industrielle Forschung.
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