Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293595294 zu verkaufen

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene bildgebende Anwendungen. Es kombiniert seine große 25,4-mm-Probenkammer mit einer breiten Palette von Detektionspaketen und bietet erweiterte Bildgebungsfunktionen. Das Instrument verfügt über eine einfach zu bedienende grafische Oberfläche mit einer dedizierten Frontplatte, mit der Forscher alle notwendigen Parameter steuern können. VEECO Dimension 3100 verfügt über eine große magnetisch geladene (CCD) bildgebende Detektionsfläche von 6,2 cm2, mit einer Auflösung von 1280 × 1024 Pixeln und einem breiten Spektrum von bildgebenden Modi von Niederspannungs-SEM bis zu Hochspannungs-Topographie und EBSD streuung. Seine große Probenkammer hat eine Kapazität von bis zu 11 Probenzellen und einen variablen Kammerdruck von 0,1 mbar bis 0,6 mbar. Das Instrument bietet auch eine Auswahl von 4 bildgebenden Detektoren; einen gefilterten rückgestreuten Sekundärelektronendetektor (BSE), einen Inlinsen-Sekundärelektronendetektor (SE), einen Hochenergie-BSE-Detektor und einen rückgesteuerten nEDXSD-Detektor. Der BSE-Detektor verfügt über eine schnelle Bildaufnahmegeschwindigkeit von bis zu 30 Bildern pro Sekunde und einen sehr niedrigen Rauschpegel, was einen hohen Kontrast und eine scharfe Definition der bildgebenden Funktionen ermöglicht. Der In-Linsen-SE-Detektor wurde entwickelt, um hochauflösende Kathodolumineszenzbilder und Beugungsmuster zu erzeugen, wodurch der Benutzer das Spektrum und die Helligkeit des emittierten Lichts steuern kann. Der nEDXSD-Detektor liefert elementare Echtzeit-Informationen mit einer Detektionszeit von weniger als einer Minute und einem erweiterten Bereich von detektierbaren Elementen von bis zu 20%. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist auch mit einem EBSD-System der dritten Generation ausgestattet, das eine schnelle und genaue Indexierung von Beugungsmustern aus polykristallinen Materialien ermöglicht. Dieses System ermöglicht auch eine Winkelkartenmusterklassifizierung, eine detaillierte Charakterisierung von Korngrenzen und eine automatisierte Analyse der Kristallorientierung. Darüber hinaus verfügt das Instrument über eine voll integrierte automatisierte Probentransferstufe, die den bequemen und sicheren Transport von Proben aus dem Labor zum SEM ermöglicht. Abschließend ist Dimension 3100 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine breite Palette von Fähigkeiten für verbesserte bildgebende Anwendungen bietet. Es bietet eine große Probenkammer, mehrere bildgebende Detektoren und eine bequeme automatisierte Probentransferstufe, so dass Forscher schnell und einfach hochauflösende bildgebende Ergebnisse erzielen können.