Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293633028 zu verkaufen

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ID: 293633028
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist ein Hochleistungs-Rastersondenmikroskop (SPM), das speziell für die nanoskalige Forschung entwickelt wurde. Es ist ideal für Nanotechnologie und materialwissenschaftliche Anwendungen, so dass Forscher Proben auf nanoskaliger Ebene abbilden und analysieren können. VEECO Dimension 3100 kommt mit einem leistungsfähigen Softwarepaket, mit dem Benutzer Proben vorbereiten, Bilder erfassen und Daten analysieren können. Es verfügt über einen motorisierten X-Y-Scanner und einen motorisierten Z-Piezo, die beiden Komponenten benötigt, um die Vielfalt der hochauflösenden Bilder zu erhalten. Der X-Y-Scanner bietet einen Regelbereich von 8 mm x 8 mm, und die Impedanzanpassung piezo eine Genauigkeit von 0,1 Nanometern in Z. Für die Bildgebung und Analyse von Proben bietet DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 verschiedene Abbildungsmodi. Dazu gehören Kontaktmodus, berührungsloser Modus und Tippmodus. Der Kontaktmodus wird zur Abbildung von harten Materialien, im berührungslosen Modus zur Abbildung weicher Oberflächen und im Abstichmodus zur Messung mechanischer Eigenschaften von Materialien verwendet. Darüber hinaus bietet Dimension 3100 Optionen wie konfokalen Modus und Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie für weitere analytische Möglichkeiten. Das optomechanische System von VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 bietet Anwendern zudem hervorragende Möglichkeiten zur Bedienung von Proben. Es verfügt über einen automatisierten Fokus, Stigmatorsteuerungen und einen Bühnencontroller mit integriertem Antriebssystem. Die Fokusregelung ist motorisiert und kann mit einer Genauigkeit von 0,1 Nanometern eingestellt werden. Die Stigmator-Steuerelemente ermöglichen es dem Benutzer, die xz- und yz-Neigung der Probe schnell anzupassen und dabei einen optimalen Fokus zu erhalten. Der Stufenregler ermöglicht dem Benutzer eine Feinabstimmung der Probenorientierung bezüglich der Z-Richtung. VEECO Dimension 3100 hat auch eine Vielzahl von Zielen. Diese Ziele reichen von 50x bis 1000x und bieten Forschern eine hervorragende Auflösung. Die variable Vergrößerung und Objektivlinsen sorgen dafür, dass für jeden Probentyp immer das beste Bild gewonnen wird. Die Ziele sind auch kompatibel mit einer breiten Palette von Analysatoren, wie Spektroskopie, photovoltaische Analyse, Kelvin Probe Force Microscopy, Nanolithographie und mehr. Insgesamt ist DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ein unglaublich fortschrittliches und leistungsstarkes Rastersondenmikroskop, das Forschern ein hervorragendes Maß an Bildqualität, Auflösung und Analysefähigkeit bietet. Es ist das ideale Werkzeug für die Erkundung von Materialien auf der Nanoskala und gibt Forschern die Möglichkeit, Eigenschaften zu beobachten und zu messen, die bisher unmöglich gewesen wären.
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