Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #293766072 zu verkaufen

ID: 293766072
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist ein Profilometer/Atomkraftmikroskop (AFM) von VEECO. Es kombiniert Profilometrie mit Nanomanipulations- und Bildgebungstechnologien und ermöglicht eine fortschrittliche mikro- und nanoskalige Analyse und Manipulation von Proben. VEECO Dimension 3100 ist eine vollständig integrierte Plattform mit hochauflösender optischer Bildgebung und präziser Profilierung. Der 3100 bietet die Möglichkeit, eine Vielzahl von Materialien auf atomarer, molekularer und nanoskaliger Ebene zu messen und zu analysieren. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist ein Scantunneling/Atomkraft/AFM-Mikroskop, das Anwendern die Möglichkeit bietet, eine Vielzahl von Proben zu messen, zu manipulieren und zu analysieren. Es verwendet eine Multi-Mode-Scan-Technik, mit der Messungen auf verschiedenen Ebenen der Präzision und Vielseitigkeit durchgeführt werden können. Dieses Mikroskop ist mit einer Digitalkamera, Zoomobjektiven und Laserabtaststufen ausgestattet, die sowohl vertikale als auch atomare Kraftmessungen ermöglichen. Es verfügt auch über ein multifunktionales Photorecording-System, das es ermöglicht, Bilder in Echtzeit abzubilden und für zukünftige Referenzen zu speichern. Das 3100 verwendet eine dreidimensionale Scantechnologie zur genauen Messung und Visualisierung der Nanoeigenschaften jedes Materials. Das Hauptmerkmal in diesem System ist das Rastertunnelmikroskop, das verwendet wird, um winzige Merkmale zu messen und atomare Kraft zwischen verschiedenen Materialien zu etablieren. Dies macht es in der Lage, sowohl physikalische als auch materielle Eigenschaften mit hoher Präzision bis zu einer Auflösung von 0,1 Nanometer zu messen. Der 3100 ist auch mit einem Nanomanipulator ausgestattet, der es Anwendern ermöglicht, Proben wie Partikel oder Nanorahmen genau zu manipulieren, um nanoskalige Merkmale zu messen. Es verfügt über eine benutzerfreundliche Oberfläche und die Möglichkeit, eine bestimmte Auswahl an Beispieleinstellungen und Parametern zu programmieren. Darüber hinaus ist der 3100 mit einer Vielzahl von Bildverarbeitungssoftware ausgestattet, die eine Vor- und Nachbearbeitung von Messbildern ermöglicht. Dies bietet eine effiziente Lösung für jede Probenanalyse und Manipulation. Schließlich bietet sein integriertes System auch Flexibilität, so dass es mit einer breiten Palette von AFM- und STM-Zubehör verwendet werden kann, was es zu einem vielseitigen Gerät für die Oberflächen- und Nanoprobenanalyse macht.
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